[发明专利]航天器通用精测微调机构和方法在审

专利信息
申请号: 201510936659.2 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN106887258A 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 韩彬;贾东永;郭军辉;杜瑞兆;郝平;任春珍 申请(专利权)人: 北京空间技术研制试验中心
主分类号: G12B5/00 分类号: G12B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 航天器 通用 微调 机构 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于航天器精度测量领域,具体涉及一种航天器通用精测微调机构和方法,用于航天器精度测量过程的精度调整,以满足需要精测微调的被调整设备的安装精度指标要求。

背景技术

航天器交会对接敏感器、陀螺、天线等设备是实现高精度交会对接的基础,它们的安装精度直接影响交会对接任务的成败。设备安装在航天器结构上时,必须保证很高的安装精度,其中陀螺等设备的安装精度更是要求严格。

为保证设备的安装精度,在航天器结构研制过程中,将设备的安装面在整器状态下组合加工。但在总装期间,舱体安装平台设备、舱体充气检漏都会使舱体发生微小变形,导致设备安装精度存在偏差。通过对舱体及设备的精度测量数据分析,交会对接设备在密封舱充气前及充气保压后,部分设备的变化量都超过了10′,远远超出安装精度偏差6′。

在设备精度测量时,如何根据测量结果对设备进行快速、准确、精细的微量调整,是精度测量工作非常重要的一环,也是实现设备最终安装精度的保证。因此,急需一种方案,能够用于航天器精度测量过程的精度调整,以满足需要精测微调的被调整设备的安装精度指标要求。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题,本发明提出了一种结构简单紧凑,使用方便快捷的通用精测微调方案,用于航天器精度测量过程的精度调整环节,以满足设备的安装精度指标要求。

本发明的一个方面提供了一种航天器通用精测微调机构,用于航天器精度测量过程的精度调整,以满足需要精测微调的被调整设备的安装精度指标要求,包括:金属微调支脚,作为标准件,由底盘和牙杆组成;以及基座,其上具有一通孔,用于固定整个机构,其中,牙杆被旋转以实现被调整设备的精度微调。

在本发明中,金属微调支脚与基座是通过螺纹副连接的,并利用通孔将航天器通用精测微调机构固定。牙杆被旋转以将大行程的旋转运动转换为微小行程的直线运动,从而实现被调整设备的精度微调,其中,牙杆绕中心轴旋转一圈,前进一个螺距的直线距离。被调整设 备的精度至少包括:角度和位置度。底盘位于金属微调支脚的尾部并且具有预定角度范围的调节能力,从而大大降低了整个机构与被调整设备的位置精度关系。

本发明的另一个方面还提供了一种航天器通用精测微调方法,包括以下步骤:步骤一,将金属微调支脚的牙杆旋入基座上的通孔步骤二,使螺钉通过基座上的通孔,将基座固定在被调整设备附近;步骤三,利用扳手卡住底盘上的外六角螺母,旋转牙杆,使金属微调支脚的底盘慢慢贴近被调整设备;步骤四,根据精度测量结果,慢慢转动扳手,将牙杆旋转预定角度,从而使底盘存在微小距离的直线位移,从而实现了被调整设备的安装角度的微调。

其中,通孔为螺纹通孔,并且底盘具有预定角度的调整范围,从而与被调整设备紧密贴合。

因此,通过本发明的航天器通用精测微调方案,使得微调装置结构简单紧凑,使用方便快捷,对精测微调机构与被调整设备的位置精度关系要求不高,并且可对精测微调机构的具体参数进行更改,以便适应不同情况的设备精度调整。

附图说明

图1是本发明的航天器通用精测微调机构的结构示意图;以及

图2是本发明的航天器通用精测微调机构的原理图。

具体实施方式

应了解,本发明的航天器通用精测微调机构,其硬件主要包括:金属微调支脚(标准件,由底盘和牙杆组成)、基座。金属微调支脚与基座通过螺纹副连接,利用精测微调机构基座上的通孔将精测微调机构固定,通过旋转精度微调支脚的牙杆,将大行程的旋转运动转换为微小行程的直线运动(牙杆绕中心轴旋转一圈,前进一个螺距的直线距离),从而实现被调整设备的精度(含角度和位置度)微调,金属微调支脚尾部的底盘具有一定角度范围的调节能力,大大降低了精测微调机构与被调整设备的位置精度关系。

下面结合附图1和2及具体实施方式对本发明进行详细说明。

如图1所示,精测微调机构由金属微调支脚(标准件,由底盘和牙杆组成)和基座组成。金属微调支脚与基座通过螺纹副连接,利用精测微调机构基座上的通孔将精测微调机构固定,通过旋转精度微调支脚的牙杆,将大行程的旋转运动转换为微小行程的直线运动(牙杆绕中心轴旋转一圈,前进一个螺距的直线距离),从而实现被调整设备的精度(含角度和位置度)微调,金属微调支脚尾部的底盘具有一定角度范围的调节能力,大大降低了精测微调机构与被调整设备的位置精度关系。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京空间技术研制试验中心,未经北京空间技术研制试验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510936659.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top