[发明专利]一种基于旋转分时采样的综合孔径辐射计相位自定标方法

权利要求书

1.一种基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，包括：

步骤1)利用综合孔径辐射计测量获得的冗余测量数据构建去噪优化的冗余方程组，并对其进行求解,得到带有相位模糊的初步通道相位结果；

步骤2)利用去模糊处理预置信息对带有相位模糊的初步通道相位结果进行去模糊处理，得到无模糊的当前通道相位测量结果；

步骤3)利用无模糊的当前通道相位测量结果和通道相位模型，进行优化滤波，得到最终通道相位结果，并完成对通道相位模型的更新；

所述去噪优化的冗余方程组包含去噪优化的旋转冗余方程组和去噪优化的基线冗余方程组；所述去噪优化的旋转冗余方程组的每一方程均通过旋转共轭冗余测量经时间加权平均和基线幅度加权得到；所述去噪优化的基线冗余方程组的每一方程均通过冗余基线测量经时间加权平均和基线幅度加权得到。

2.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述相位自定标方法将根据旋转分时采样综合孔径辐射计对目标测量过程中的冗余测量信息进行相位自定标，所述相位自定标流程与目标观测同步进行，所述旋转分时采样综合孔径辐射计的旋转角度≥180°。

3.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述去噪优化的旋转冗余方程组的构建步骤为：

步骤101)对于任意基线ab，在阵列旋转角度θ和θ+π时，测量得到一组旋转共轭冗余测量数据；

步骤102)取步骤101)中测量得到的多组旋转共轭冗余测量数据经时间加权平均，构成去噪优化的基线旋转冗余方程，所述的时间加权平均是根据多组旋转共轭冗余测量数据的幅值大小进行加权求平均；

步骤103)取步骤102)中计算得到的n个去噪优化的基线旋转冗余方程经基线幅度加权后进行联立，形成去噪优化的旋转冗余方程组，所述的基线幅度加权是根据基线旋转一圈测量数据的幅值平均值大小进行加权。

4.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述去噪优化的基线冗余方程组的构建步骤为：

步骤201)对于等长的冗余基线ab和cd在倾斜角度θ时，测量得到一组基线冗余测量数据；

步骤202)取步骤201)中测量得到的多组基线冗余测量数据经时间加权平均后构成去噪优化的基线冗余方程，所述的时间加权平均是根据多组基线冗余测量数据的幅值大小进行加权求平均；

步骤203)取步骤202)中计算得到的n个去噪优化的基线冗余方程经基线幅度加权后进行联立，形成去噪优化的基线冗余方程组，所述的基线幅度加权是根据冗余基线旋转一圈测量数据的幅值平均值大小进行加权。

5.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述的去模糊处理预置信息包含超短基线相位预置信息，所述的超短基线相位预置信息通过将天线阵列形成的N组基线按照由短到长的顺序排列后，根据该N组基线中的前n组基线的电尺寸长度进行预估得到。

6.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述的去模糊处理预置信息包含阵列冗余基线信息，所述的阵列冗余基线信息根据天线阵列的冗余基线进行构建，对于冗余基线ab和冗余基线cd，其在相同倾斜角度下的理想测量值相同。

7.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述的去模糊处理预置信息包含相位闭合信息，所述的相位闭合信息根据天线阵列的结构进行构建，对于闭合环基线ab,bc和ca在某一时刻下，理想测量值的相位的和与有通道相位误差的测量值的相位的和相等。

8.根据权利要求1所述基于旋转分时采样的综合孔径辐射计的相位自定标方法，其特征在于，所述通道相位模型的表达式为：

α_t＝a·α′_t+b·α_t-1+c·α_t-2+d·α_t-3+e·α_t-4+f·α_t-5

其中，a,b,c,d,e,f均为通道相位模型参数，α′_t为无模糊的当前通道相位测量结果，α_t为最终通道相位结果，α_t-1～α_t-5为前1～5个时刻的通道相位结果；

所述通道相位模型通过将α_t-1～α_t-5依次替换为α_t～α_t-4来完成更新。