[发明专利]用于产品电磁性能检测的墙壁结构

说明书

本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构属于检测领域，具体涉及一种电波暗室墙壁结构；该墙壁结构从外到内依次包括：墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜(墙体、低频吸附膜、高频吸附膜和保护膜)，所述高频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构，所述低频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构，所述保护膜不透明；本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构彻底颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，采用了一种全新膜结构，不仅简化了墙壁结构，大幅减小墙壁重量和厚度，降低了制作成本，同时还能简化安装程序。

技术领域

本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构属于检测领域，具体涉及一种电波暗室墙壁结构。

背景技术

电波暗室，是主要用于模拟开阔场，同时用于辐射无线电骚扰和辐射敏感度测量的密闭屏蔽室，在电子产品性能测试领域具有重要作用。

传统电波暗室主要由屏蔽室和吸波材料组成。这种结构具有以下缺点和不足：

屏蔽室和吸波材料分立设计，吸波材料中吸收低频段的铁氧体和吸收高频段的海绵吸收体也采用分立设计，并且海绵吸收体还要采用锥形设计，使得整个墙壁结构又厚又重，进而出现成本高、安装困难的问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明设计了一种用于产品电磁性能检测的墙壁结构，该墙壁结构彻底颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，采用了一种全新膜结构，不仅简化了墙壁结构，大幅减小墙壁重量和厚度，降低了制作成本，同时还能简化安装程序。

本发明的目的是这样实现的：

用于产品电磁性能检测的墙壁结构，从外到内，依次包括：

墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜；

或

墙体、低频吸附膜、高频吸附膜和保护膜；

所述墙体不透明；

所述高频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构；

所述低频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构；

所述保护膜不透明。

上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述墙体为玻璃、锡纸交错连接的多层结构，最外层和最内层均为玻璃层。

上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，高频吸附膜和低频吸附膜中金属线的周围有碳保护膜。

上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述保护膜为两片玻璃中间夹有碳粉层的结构。

上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述低频吸附膜中金属线的图形为圆形、方形、矩形或菱形结构。

有益效果：

第一、由于本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构包括墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜，而高频吸附膜和低频吸附膜均为干燥后掩膜胶夹杂金属线的结构，彻底颠覆传统屏蔽室与吸波材料之间的划分，进而颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，因此可以实现减小墙壁的厚度；

第二、由于本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构中，发现周期性金属线结构具有吸附低频电磁波的功能，并采用干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线结构代替铁氧体，因此可以减小墙壁质量；

第三、由于本发明用于产品电磁性能检测的墙壁结构中，发现非周期金属线结构具有吸附高频电磁波的功能，并采用干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线结构代替海绵吸收体，采用平面结构代替锥形结构，因此可以降低制作成本，减小墙壁厚度；