[发明专利]按键寿命试验装置

说明书

技术领域

本发明属于按键检测设备技术领域，尤其涉及一种按键寿命试验装置。

背景技术

在我们日常生活中，经常通过按压点击来进行相应的操作，如计算机、手机、平板电脑、记事本等产品上的电源开关按压，或者键盘、鼠标的点击等。因为需要频繁进行操作，便需要保证该产品的质量，因而需要对按键的使用寿命进行试验。

目前,如图1所示，市面上使用的按键寿命测试机一般采用马达转动曲轮，使连杆围绕曲轮中心摆动，带动敲击杆上下移动来触发按键进行试验，但是其缺点是：1)需要人工调试好点击杆与按键之间精准的相对高度，才能进行试验；2)对按键的点击力度无法量化，试验数据容易失真，点击力度过小会出现按键不触发，而点击力度过大又会造成按键结构的提前破坏，使用不方便。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种按键寿命试验装置，其能实现试验的更精准化和减少操作人员的工作量，提高了按键寿命试验的可靠性和准确性。

本发明的技术方案是：一种按键寿命试验装置，包括用于测试按键的试验组件和用于驱动所述试验组件往复升降的驱动件，所述试验组件包括支架和活动设置在所述支架上用于点击测试所述按键的点击杆，所述点击杆上设置有用于提供按压力的配重块，所述支架通过紧固件与所述驱动件连接、且之间设置有用于调节所述支架安装高度的调位结构。

进一步地，所述试验组件还包括设置在所述点击杆下方的信号采集盒，所述按键设置在所述信号采集盒上。

具体地，所述支架和所述点击杆之间设置有用于导向所述点击杆升降的导向件，所述支架上设置有用于安装所述导向件的安装孔，所述导向件的一端插设于所述安装孔内，所述点击杆穿设在所述导向件内。

优选地，所述导向件为直线轴承。

具体地，所述支架包括相互垂直连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部与所述驱动件连接，所述点击杆活动设置在所述第二连接部上，所述调位结构设置在所述第一连接部上。

进一步地，所述第一连接部与所述驱动件之间还设置有连接杆，所述连接杆与所述驱动件连接，所述紧固件一端固定在所述连接杆内，另一端穿设在所述调位结构内。

具体地，所述调位结构为开设在所述第一连接部上的调节孔，所述紧固件穿设在所述调节孔内的一端连连接有紧固螺母。

优选地，所述调节孔平行设置有两个。

进一步地，所述第一连接部之间还设置有垫片。

具体地，所述连接杆上开设有安装槽，所述第一连接部滑动设置在所述安装槽内。

本发明提供的一种按键寿命测试验装置，该试验组件在驱动件的驱动下，能够使支架上下升降，通过在支架上活动设置点击杆，并通过在点击杆上设置配重块，从而在支架的升降过程中，使点击杆能够点击按压按键，对按键寿命进行试验测试，而且通过对配重块进行调整便可获得合适的点击力度，避免点击力过大或过小，确保试验测试的精度和安全性。并且通过调节结构能够方便快捷的调整测试的高度，使试验调试更加简单，确保了测试的方便性。

附图说明

图1是背景技术中按键寿命测试机的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的按键寿命试验装置的左视图；

图3是本发明实施例提供的按键寿命试验装置的主视图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图2所示，本发明实施例提供的一种按键寿命试验装置1，包括用于测试按键20的试验组件(图中未标示)和用于驱动试验组件往复升降的驱动件(图中未示出)。在实际试验时，驱动件工作而带动试验组件按照控制指令往复升降，实现对按键20的反复点击试按压，从而完成对按键20使用寿命的测试。