[发明专利]图像传感器、应用处理器和处理坏像素的方法有效
| 申请号: | 201510791452.0 | 申请日: | 2015-11-17 |
| 公开(公告)号: | CN105611195B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
| 发明(设计)人: | 赵镛性 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星;刘灿强 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像传感器 应用 处理器 处理 像素 方法 | ||
1.一种图像传感器,包括:
图像生成单元,被配置为生成与入射光的强度对应的像素图像;以及
坏像素处理单元,被配置为检测坏像素,并且输出补偿后的像素图像,
其中,坏像素处理单元包括:
坏像素检测单元,被配置为确定代表至少一个坏像素的代表性像素是否被包括在核中,并且当代表性像素被包括在核中时确定第一像素是否为坏像素,所述核在核的中心处具有第一像素;以及
坏像素补偿单元,被配置为当第一像素被确定为坏像素时,使用核中的第二像素来补偿第一像素,并且输出补偿后的像素图像,
其中,仅包括代表性像素的坐标的第一数据作为代表性像素信息存储在坏像素存储器中,并且坏像素检测单元使用坐标确定第一像素是否为坏像素。
2.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,当代表性像素被包括在核中时,坏像素检测单元调整核的第一像素范围。
3.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,坏像素检测单元将第一像素的坐标与代表性像素的坐标进行比较,基于比较结果计算水平偏移和竖直偏移,并且确定水平偏移和竖直偏移是否在与核的大小对应的预定值内,
其中,水平偏移是第一像素与代表性像素之间在第一方向上的距离,并且
其中,竖直偏移是第一像素与代表性像素之间在与第一方向垂直的第二方向上的距离。
4.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,核的大小为3×3、5×5和7×7中的一个。
5.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,当代表性像素没有被包括在核中时,坏像素检测单元将第一像素输出为补偿后的像素图像,而不执行坏像素补偿。
6.根据权利要求1所述的图像传感器,其中,图像生成单元包括:
像素阵列,包括多个像素,每个像素被配置为生成根据入射光的强度变化的电信号;
读出块,被配置为将电信号转换为数字格式的像素图像;以及
控制单元,被配置为控制像素阵列和读出块。
7.一种应用处理器,包括:
照相机接口,被配置为接收像素图像;以及
图像信号处理器,被配置为处理像素图像以生成图像数据,
其中,图像信号处理器,包括:
坏像素检测单元,被配置为确定代表至少一个坏像素的代表性像素是否被包括在核中,并且当代表性像素被包括在核中时确定第一像素是否为坏像素,所述核在核的中心处具有第一像素;以及
坏像素补偿单元,被配置为当第一像素被确定为坏像素时,使用核中的第二像素来补偿第一像素,
其中,仅包括代表性像素的坐标的第一数据作为代表性像素信息存储在坏像素存储器中,并且坏像素检测单元使用坐标确定第一像素是否为坏像素。
8.根据权利要求7所述的应用处理器,其中,当代表性像素被包括在核中时,坏像素检测单元调整核的第一像素范围。
9.根据权利要求7所述的应用处理器,其中,坏像素检测单元将第一像素的坐标与代表性像素的坐标进行比较,基于比较结果计算水平偏移和竖直偏移,并且确定水平偏移和竖直偏移是否在与核的大小对应的预定值内,
其中,水平偏移是第一像素与代表性像素之间在第一方向上的距离,并且
其中,竖直偏移是第一像素与代表性像素之间在与第一方向垂直的第二方向上的距离。
10.根据权利要求7所述的应用处理器,其中,核的大小为3×3、5×5和7×7中的一个。
11.根据权利要求7所述的应用处理器,其中,当代表性像素没有被包括在核中时,坏像素检测单元将第一像素输出为补偿后的像素图像,而不执行坏像素补偿。
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