[发明专利]一种IC验证工具的电源

说明书

技术领域

本发明涉及IC验证技术领域，特别是涉及一种IC验证工具的电源。

背景技术

目前，随着半导体行业的快速发展，IC验证技术也在跟随其不断发展。对于每颗IC的验证都需要供给其电源电压，此外，在验证过程中还需要是可程控的电源电压，并可程控通断，同时还需要测量待测IC的正常功耗和休眠功耗等。但是，现有的电源电压会随着IC的不同或者IC的工作状态的不同，以造成电源输出电压有明显的改变，因此也造成供电电压不准确，测量的待测IC功耗也不准确。例如，在没有连接待测IC时电源电压是一个值，连接待测IC后，其电源电压会有一个明显的改变(电源的输出阻抗和测量功耗的采样电阻造成的)，造成供电电压的不准确，影响IC验证的验证结果。

因此，如何克服电源在IC验证过程中供电电压不准确的问题是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种IC验证工具的电源，用于克服电源在IC验证过程中供电电压不准确的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种IC验证工具的电源，包括：

微处理器；

与所述微处理器连接的数字模拟转换器；

与所述数字模拟转换器连接的，用于将所述数字模拟转换器输出的电压进行电压调整的电压调整电路；

与所述电压调整电路和所述微处理器连接的，用于采集所述电压调整电路输出的电信号并将所述电信号反馈至所述微处理器的电信号反馈电路；

与所述电压调整电路的输出端和待测IC连接的微型继电器；

与所述微处理器和所述微型继电器连接的，用于根据所述微处理器的开关指令控制所述微型继电器接通所述待测IC的电源或断开所述待测IC的电源的微型继电器驱动。

优选地，所述电压调整电路包括：

用于为所述待测IC提供正常功耗所需电压的正常功耗调整子电路；

用于为所述待测IC提供休眠功耗所需电压的休眠功耗调整子电路；

所述正常功耗调整子电路包括：

依次连接的第一运算放大器、第一肖特基二极管、第一自恢复保险丝、第一LC滤波电路、第一采样电阻、第二采样电阻；

所述休眠功耗调整子电路包括：

依次连接的第二运算放大器、第二肖特基二极管、第二自恢复保险丝、第二LC滤波电路、第三采样电阻、第四采样电阻；

所述第一采样电阻的阻值小于所述第三采样电阻的阻值；

所述第二采样电阻的阻值小于所述第四采样电阻的阻值；

其中，所述电信号反馈电路包括用于采集所述第一采样电阻的电信号的待测IC正常工作时的电信号反馈电路和用于采集所述第三采样电阻的电信号的待测IC休眠时的电信号反馈电路。

优选地，还包括：

用于采集所述第二采样电阻的差模电压的正常功耗采样电路。

优选地，所述正常功耗采样电路包括：

用于采集所述第二采样电阻的差模电压的第一仪表放大器；

与所述第一仪表放大器连接的第一RC低通滤波器；

与所述第一RC低通滤波器和所述微处理器连接的第一模拟数字转换器。

优选地，所述待测IC正常工作时的电信号反馈电路包括：

用于测量所述第一采样电阻的共模电压的第一电压测量装置；

用于根据所述第一采样电阻的电信号报警的待测IC正常工作保护电路；

其中，所述待测IC正常工作保护电路包括：

当所述第一采样电阻的共模电压值超出第一预设电压范围时报警的第一电压保护电路；

用于当所述第一采样电阻的电流值超出第一预设电流范围时报警的第一电流保护电路。

优选地，还包括：

用于采集所述第四采样电阻的差模电压的休眠功耗采样电路。

优选地，所述休眠功耗采样电路包括：

用于采集所述第四采样电阻的差模电压的第二仪表放大器；

与所述第二仪表放大器连接的第二RC低通滤波器；

与所述第二RC低通滤波器和所述微处理器连接的第二模拟数字转换器。

优选地，所述待测IC休眠时的电信号反馈电路包括：

用于测量所述第三采样电阻的共模电压的第二电压测量装置；

用于根据所述第三采样电阻的电信号报警的待测IC休眠工作保护电路；

其中，所述待测IC休眠工作保护电路包括：

当所述第三采样电阻的共模电压值超出第二预设电压范围时报警的第二电压保护电路；