[发明专利]二维核磁共振弛豫时间的测量方法

说明书

本发明公开一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，包括：向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，根据T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁‑T₂分布。本发明的测量方法，只需要两次一维扫描就可以得到二维弛豫时间分布，在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量，避免了现有技术中测量所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

技术领域

本发明涉及流体的核磁共振测量，尤其涉及二维核磁共振弛豫时间的 测量方法。

背景技术

流动核磁共振弛豫测量是一种核磁共振弛豫测量方式，广泛应用于具 有时间依赖性的各类流程监测中。核磁共振中，通常使用核磁共振弛豫特 性来区分不同的流体类别，二维核磁共振弛豫是近年来比较常见的实验室 内描述孔隙介质结构或流体组成成分的方法，包括纵向弛豫时间T1和横 向弛豫时间T2，可有效区分一维核磁共振实验难以区分具备相同的T1组 分不同T2组分，或具备相同的T2组分不同T1组分的样品。

现有的二维核磁共振弛豫测量方法为，在流体样品流动的状态下进行 一组不同等待时间的CPMG脉冲序列测量，其中，等待时间是人为设定的， 针对不同的样品各有不同。

但是，传统的二维测量需要在不同的等待时间分别进行CPMG脉冲序 列测量，所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探 测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确。

发明内容

本发明提供一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，以克服现有的测 量方法，所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探 测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

本发明提供一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，包括：

向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号， 获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获 得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分 布的函数关系，所述第一公式为：

其中，T₂为横向弛豫时间，τ₁为样品的重复极化时间，τ₂＝4τ_DE，τ_DE为半 回波间隔时间；