[发明专利]一种调整电路仿真时间步长的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片电路仿真技术领域，特别是涉及一种调整电路仿真时间步长的方法及装置。

背景技术

随着芯片电路规模的急剧扩大，与芯片产品化的需求之间的矛盾，对电路的仿真速度与精度提出了更高的要求。为了满足芯片电路仿真速度的需要，各仿真器厂家利用右端项收敛检测等方式提高时间步长的可用性，以期望提高电路方程组右端项收敛的速度，进而加快电路的仿真速度。但由于有周期结点的存在，选择的时间步长，实际效果始终不能令人满意，时间步长预测效率的下降进一步导致仿真速度无法提高。

因此，提供一种调整电路仿真时间步长的方法及装置，以提高芯片电路的仿真速度是非常有必要的。

发明内容

本发明的目的是提供一种调整电路仿真时间步长的方法及装置，目的在于提高芯片电路的仿真速度。

为解决上述技术问题，本发明提供一种调整电路仿真时间步长的方法，包括：

识别出电路结点中的周期结点；

记录所述周期结点的完整周期的历史数据，存储到历史信息矩阵中；

根据所述历史数据计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数；

通过所述二阶导数以及所述周期结点的数目，确定电路仿真时间的步长调整系数；

通过所述步长调整系数以及标准步长对下一时刻仿真时间的步长进行调整。

可选地，所述识别出电路结点中的周期结点包括：

结合电路结点的仿真历史信息，识别出电路结点中的周期结点。

可选地，所述根据所述历史数据计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数包括：

根据当前时刻以及前预设数目的仿真数据，匹配所述历史信息矩阵，对当前时刻所述周期结点的区间进行判断；

结合所述周期结点的区间信息，计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数。

可选地，所述结合所述周期结点的区间信息，计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数包括：

若所述历史数据中存在与当前时刻仿真值相同的数据，则将相同数据所对应的二阶导数作为所述周期结点的二阶导数；否则将与当前时刻仿真值相邻的两个数据的二阶导数的平均值作为所述周期结点的二阶导数。

可选地，所述通过所述二阶导数以及所述周期结点的数目，确定电路仿真时间的步长调整系数包括：

将所述二阶导数的值与预设阈值进行判断，当小于所述预设阈值时，将二阶导数的代数值赋值为1；否则，将所述二阶导数的代数值赋值为0；

计算所有周期结点的二阶导数的代数值的和；

将所述代数值的和与所述周期结点的数目的比值，作为所述步长调整系数。

本发明还提供了一种调整电路仿真时间步长的装置，包括：

识别模块，用于识别出电路结点中的周期结点；

记录模块，用于记录所述周期结点的完整周期的历史数据，存储到历史信息矩阵中；

计算模块，用于根据所述历史数据计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数；

确定模块，用于通过所述二阶导数以及所述周期结点的数目，确定电路仿真时间的步长调整系数；

调整模块，用于通过所述步长调整系数以及标准步长对下一时刻仿真时间的步长进行调整。

可选地，所述识别模块用于识别出电路结点中的周期结点包括：

所述识别模块具体用于结合电路结点的仿真历史信息，识别出电路结点中的周期结点。

可选地，所述计算模块包括：

判断单元，用于根据当前时刻以及前预设数目的仿真数据，匹配所述历史信息矩阵，对当前时刻所述周期结点的区间进行判断；

计算单元，用于结合所述周期结点的区间信息，计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数。

可选地，所述计算单元用于结合所述周期结点的区间信息，计算得到当前时刻所述周期结点的二阶导数包括：

所述计算单元具体用于若所述历史数据中存在与当前时刻仿真值相同的数据，则将相同数据所对应的二阶导数作为所述周期结点的二阶导数；否则将与当前时刻仿真值相邻的两个数据的二阶导数的平均值作为所述周期结点的二阶导数。

可选地，所述确定模块包括：

赋值单元，用于将所述二阶导数的值与预设阈值进行判断，当小于所述预设阈值时，将二阶导数的代数值赋值为1；否则，将所述二阶导数的代数值赋值为0；

计算单元，用于计算所有周期结点的二阶导数的代数值的和；

确定单元，用于将所述代数值的和与所述周期结点的数目的比值，作为所述步长调整系数。