[发明专利]基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法。

背景技术

光声显微镜成像技术(PhotoacousticMicroscopy，PAM)由于其能够对深层组织进行高分辨率成像而备受关注，并被用于很多生物医学研究，如癌症的分子成像和功能成像。

目前的光声显微镜成像技术一般是对成像区域逐点扫描实现的。对于光学分辨率显微镜成像技术(Optical-ResolutionPhotoacousticMicroscopy，OR-PAM)，要想提高横向分辨率，就需要增加光学数值孔径，但相应的成像深度也会减小，并且对硬件的要求也会提升。对于声学分辨率显微镜成像技术(Acoustical-ResolutionPhotoacousticMicroscopy，AR-PAM)，高成像分辨率取决于更高性能的超声换能器。

已有的一些技术手段大多是通过改进成像系统或成像方法来提高成像分辨率，但都会增加系统的成本。

发明内容

本发明的目的是如何在不增加系统成本的同时提高成像分辨率。

为此目的，本发明提出基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法，包括：

S1、获取光声显微镜低分辨率图像；

S2、对所述光声显微镜低分辨率图像进行插值处理，得到插值图像；

S3、基于二阶广义全变差，确定优化所述插值图像的优化模型；

S4、基于所述优化模型，采用凸优化算法，重构出光声显微镜高分辨率图像。

可选的，所述S2，包括：

利用双三次插值法对所述光声显微镜低分辨率图像进行插值，得到插值图像。

可选的，在所述S3中，优化模型为：

argminIH12λ||IH-IH′||22+α1Σi=12||▿iIH-pi||+α0Σi=13||qi||]]>