[发明专利]一种老化实验的多通道数据传输装置在审

专利信息
申请号: 201510558996.2 申请日: 2015-09-06
公开(公告)号: CN105136187A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 高忠阳;林树超;黄晓杰;杨森麟;邓娟;马效培;彭文武;赵宏忠 申请(专利权)人: 北京长峰微电科技有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 岳洁菱
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 老化 实验 通道 数据传输 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种数据传输装置,特别是一种老化实验的多通道数据传输装置。

背景技术

在当今的工业自动化与过程控制应用中,有大量的传感器,对许多过程参数进行测量,如:压力、温度、有毒气体等。这些传感器让工业处理变得更加安全、更高效率和更低成本。但不同传感器都有自己的独有特性,从而在长期的连续工作中会有不同程度的性能衰减和变化,因此在传感器出厂前,会对不同批次的传感器进行抽样老化,以获得传感器的性能参数和指标。

同样,在一些特种设备中的不同组件由于工作环境较恶劣,这些要在高低温、低气压、高热高湿等特殊环境下进行长时间工作,在组件组装完成后亦需对组件进行不同环境下的老化实验,以验证组件的性能是否达标。

现有老化实验设备包括控制计算机和老化台,现有设备结构简单、缺乏自动控制、无法实时监测。

发明内容

本发明目的在于提出一种老化实验的多通道数据传输装置,解决现有设备结构简单、缺乏自动控制、无法实时监测问题。

一种老化实验的多通道数据传输装置,包括:空气箱和中心控制计算机,还包括:老化夹具。

所述老化夹具包括老化台支架和通道切换连接器,其中老化台支架由3个相同的环形薄板同轴竖直均匀排列并通过竖梁固定而成,其中环形薄板上均雕刻有电路,其中每个环形薄板的上表面均具有32个矩形凹陷的卡槽,这些卡槽以环形薄板的中心为圆心呈圆形均匀排布一周,且每个卡槽内均具有接口;通道切换连接器分别与老化台支架的3层薄板通过数据线相连接,并通过环形薄板上的雕刻电路在卡槽间相互切换,与卡槽顺次连通。

所述老化夹具的老化台支架由螺丝固定在空气箱内,通道切换连接器位于空气箱外部,并与中心控制计算机通过电缆连接,同时中心控制计算机与空气箱的控制电缆连接。

多通道数据传输装置在工作时,将多个待测组件分别放置于老化夹具的老化台支架上的卡槽中,并与卡槽中的接口连通,中心控制计算机控制空气箱中的环境参数,使所有待测组件均在指定环境下工作,在预先设定好的老化时间点,中心控制计算机控制通道切换连接器,使其依次在卡槽间切换,同时采集每个卡槽内的待测组件的工作状态数据,中心控制计算机对这些数据进行分析和处理,完毕后,等待下一个老化时间点。

本装置适用各种传感器、器件和组件的老化监测和标效,且自动化程度高,可实时对被测组件进行检测。

附图说明

图1一种老化实验的多通道数据传输装置的老化夹具结构图;

图2一种老化实验的多通道数据传输装置的结构图。

1.老化夹具2.空气箱3.中心控制计算机4.被测试件5.通道切换连接器6.老化台支架7.卡槽。

具体实施方式

下面结合具体实施例,进一步阐述发明。应说明的是:以下实施例仅用以说明本发明而并非限制本发明所描述的技术方案;因此,尽管本说明书参照下述的实施例对本发明已进行了详细的说明,但是,本领域的普通技术人员应当理解,仍然可以对本发明进行修改或等同替换;而一切不脱离发明的精神和范围的技术方案及其改进,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

一种老化实验的多通道数据传输装置,包括:空气箱2和中心控制计算机3,还包括:老化夹具1。

所述老化夹具1包括老化台支架6和通道切换连接器5,其中老化台支架6由3个相同的环形薄板同轴竖直均匀排列并通过竖梁固定而成,其中环形薄板上均雕刻有电路,其中每个环形薄板的上表面均具有32个矩形凹陷的卡槽7,这些卡槽7以环形薄板的中心为圆心呈圆形均匀排布一周,且每个卡槽内均具有接口;通道切换连接器5分别与老化台支架6的3层薄板通过数据线相连接,并通过环形薄板上的雕刻电路在卡槽7间相互切换,与卡槽7顺次连通。

所述老化夹具1的老化台支架6通过螺栓固定在空气箱2内,通道切换连接器5位于空气箱外部,并与中心控制计算机3通过电缆连接,同时中心控制计算机3与空气箱2的控制电缆连接。

多通道数据传输装置在工作时,将96个待测组件分别放置于老化夹具1的3层老化台支架6上的共96个卡槽7中,使待测组件与相应卡槽7中的接口连通,中心控制计算机3控制空气箱2中的环境参数:温度+50℃,湿度93%RH,使所有待测组件均在该环境下工作,在预先设定好的老化时间点,中心控制计算机3通过向通道切换连接器5发送不同待测组件的一级和二级编码,一级编码指示上中下三层支架,二级编码指示具体卡槽的位置,从而控制通道切换连接器5,使其依次在卡槽7间切换,同时采集每个卡槽7内的待测组件的老化数据,中心控制计算机3对这些数据进行对比分析,完毕后,等待下一个老化时间点,通过多次数据采集,对不同试件在同一老化环境下的数据进行对比分析,得出该批试件的性能参数和指标。

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