[发明专利]基于高斯参数拟合的局部放电谱图特征模式识别算法

权利要求书

1.基于高斯参数拟合的局部放电谱图特征模式识别算法，其特征在于，包括：

a、获取待测量局部放电过程中的局部放电图谱；

b、基于获取的局部放电图谱，利用高斯函数获取待测量局部放电过程中的待识别局部放电与标准局部放电特征量之间的距离；

c、基于获取的待识别局部放电与标准局部放电特征量之间的距离，获取局部放电模式识别的结果并输出；所述步骤b，具体包括：

b1、基于获取的局部放电图谱，对获取的局部放电图谱进行拟合；

b2、基于对局部放电图谱的拟合结果，计算高斯函数特征参量；

b3、基于计算所得高斯函数特征参量，构造二元特征量；

b4、基于构造所得二元特征量，计算待测量局部放电过程中的待识别局部放电与标准局部放电特征量之间的距离。

2.根据权利要求1所述的基于高斯参数拟合的局部放电谱图特征模式识别算法，其特征在于，所述步骤b2，进一步包括：

在所述步骤b2中，所述的高斯函数特征参量，包括“聚集中心”、“弥散范围”和“分配比重”；

在所述步骤b2中，所述高斯函数为二元高斯函数；所述二元高斯函数的原型函数为：

f ( x , y ) = 1 2 π | Σ | · exp [ - 1 2 ( x - μ ) T · Σ - 1 · ( x - μ ) ] ; ]]>

其中，均值μ＝(μx,μy)，协方差矩阵