[发明专利]一种投影方法及电子设备在审
| 申请号: | 201510446160.3 | 申请日: | 2015-07-27 |
| 公开(公告)号: | CN106657848A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
| 发明(设计)人: | 赵晶;郝京阳 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/74 | 分类号: | H04N5/74;H04N9/31 |
| 代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司11225 | 代理人: | 黄威,王智 |
| 地址: | 100085 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 投影 方法 电子设备 | ||
1.一种投影方法,其特征在于,包括:
获取投影面的相关信息;
根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;
基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面自身的凹凸信息;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述投影面自身的凹凸信息,具体包括:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,具体包括:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
6.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:获取模块,处理器和投影模块;
所述处理器用于,基于所述获取模块获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数,基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容,并调用投影模块将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
7.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
8.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面自身的凹凸信息;
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
9.根据权利要求8所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
10.根据权利要求9所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
11.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
获取单元,用于获取投影面的相关信息;
确定单元,用于根据所述获取单元获取的所述相关信息确定投影内容的调整参数;
调整单元,用于基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
投影单元,用于将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
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