[发明专利]基于广义特征分解的全极化高分辨距离像目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201510364487.6 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN105044697B 公开(公告)日: 2017-07-18
发明(设计)人: 杜兰;杨栋文;李芳;罗智泉;王英华;纠博 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 广义 特征 分解 极化 分辨 距离 目标 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于雷达目标检测领域,涉及一种基于广义特征分解的全极化高分辨距离像目标检测方法,适用于全极化雷达的目标检测。

背景技术

传统的单极化宽带雷达只具有一个接收通道,在检测目标时,只能通过回波的幅度信息来检测目标。随着雷达技术的不断发展,全极化雷达得到了越来越广泛的应用。由于全极化雷达,具有四个接收通道,能提供丰富的极化信息,全极化雷达的目标检测性能优于传统的单极化雷达。但现有的全极化雷达目标检测算法大多针对目标的SAR图像对目标进行检测,如基于几何扰动的单目标检测器(STD)和部分目标检测器(PTD);而在全极化高分辨距离像中,每个距离单元内都包含有杂波,因此现有的全极化雷达目标检测算法不适用于全极化高分辨距离像的目标检测。

发明内容

针对上述现有技术的不足,本发明的目的在于提出了一种基于广义特征分解的全极化高分辨距离像目标检测方法,该方法利用全极化雷达的极化信息,通过广义特征分解的方法抑制杂波,能够提高全极化高分辨距离像的目标检测率。

本发明的实现思路是:在全极化雷达获得的全极化高分辨距离像(HRRP)中,目标区的回波中包含了目标回波和杂波;本发明针对全极化高分辨距离像,先获得训练目标回波和训练杂波作为训练数据,并通过广义特征分解的方法,找到训练数据中信杂比相对较大的子空间;再获得全极化雷达的测试全极化高分辨距离像作为测试数据,根据训练数据中信杂比相对较大的子空间,对测试数据进行检测。

为达到上述技术目的,本发明采用以下技术方案予以实现。

一种基于广义特征分解的全极化高分辨距离像目标检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,根据已知的全极化雷达的回波,获取训练目标回波和训练杂波作为训练数据;通过广义特征分解方法,从训练数据中找到信杂比相对较大的子空间,计算得到投影矩阵P;

步骤2,获取全极化雷达的测试全极化高分辨距离像作为测试数据;根据投影矩阵P对测试数据进行目标检测。

本发明的特点和进一步改进在于:

(1)所述步骤1的具体子步骤为:

1.1根据已知的全极化雷达的回波获取训练目标回波,将训练目标回波划分为N片区域,并计算得到训练目标回波的第n片区域的相干向量,n=1...N;

1.2根据已知的全极化雷达的回波获取训练杂波,将训练杂波划分为J片区域,并计算得到训练杂波的第j片区域的相干向量,j=1...J;

1.3计算训练目标回波的相干向量的协方差矩阵C(O)和训练杂波的相干向量的协方差矩阵C(C)

1.4根据训练目标回波的相干向量的协方差矩阵C(O)和训练杂波的相干向量的协方差矩阵C(C),计算得到投影矩阵P。

(2)所述步骤2的具体子步骤为:

2.1获取全极化雷达的测试全极化高分辨距离像作为测试数据;将测试数据划分为L个距离单元,计算测试数据的第l个距离单元的相干矩阵,并提取测试数据的第l个距离单元的相干向量,l=1...L;

2.2将测试数据的第l个距离单元的相干向量kD(l)左乘投影矩阵P,得到测试数据的第l个距离单元的重构相干向量k'D(l)为:

k'D(l)=PkD(l)

2.3求第l个距离单元的重构相干向量k'D(l)的2-范数||k′D(l)||2

2.4设定检测门限η,如果第l个距离单元的重构相干向量k'D(l)的2-范数||k'D(l)||2≥η,则将测试数据判定为目标;否则将测试数据判定为杂波。

本发明的有益效果是:本发明的基于广义特征分解的全极化高分辨距离像目标检测方法,通过广义特征分解的方法对全极化雷达的全极化高分辨距离像进行目标检测,不仅能够充分抑制杂波、增强信杂比,还能够检测到一些回波能量比较弱小的目标距离单元,提高了全极化高分辨距离像的目标检测率。

附图说明

下面结合附图说明和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

图1是本发明的流程图。

图2a是实验一所用的训练数据图;

图2b是实验一所用的测试数据图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510364487.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top