[发明专利]由与阳极板相同的材料制成的光谱保持足跟效应补偿过滤器

权利要求书

1.一种X射线管(10)，包括：

具有阳极板(110)的阳极(108)；

阴极(101)；

窗部；以及

用于至少部分地补偿X射线管的靶角度足跟效应并且获得恒定的光谱以校正X射线束的光谱失真的过滤器(300)，所述过滤器(300)由使用薄膜沉积技术沉积于所述窗部的材料形成并具有阳极侧和阴极侧(304)，其中，所述阴极侧(304)具有比所述阳极侧(302)更高的衰减系数，并且其中，所述衰减系数被确定以至少部分补偿所述靶角度足跟效应；其中，所述过滤器(300)由与所述阳极板(110)相同的材料制成并且所述阴极侧(304)厚于所述阳极侧(302)，并且所述阴极侧(304)与所述阳极侧(302)之间的厚度差在50μm和200μm之间，

其中，所述材料是钨或者钨合金。

2.根据权利要求1所述的X射线管(10)，其中，形成所述过滤器(300)的所述材料被溅射于薄膜上。

3.根据权利要求1所述的X射线管(10)，所述过滤器(300)的厚度沉积通过机械磨削、化学磨削和/或激光磨削控制。

4.根据权利要求1所述的X射线管(10)，其中，形成所述过滤器(300)的材料是楔形，其中，所述楔形包括水平顶部、底部、第一垂直侧和第二垂直侧，并且其中，所述第一垂直侧和所述第二垂直侧在长度上不相等。

5.一种用于至少部分补偿X射线管的靶角度足跟效应并且获得恒定的光谱以校正X射线束的光谱失真的方法，所述方法包括：

提供X射线管(10)，其包括具有阳极板(110)的阳极(108)、阴极(101)和窗部；

将具有阳极侧(302)和阴极侧(304)的过滤器(300)放置于所述X射线管(10)和X射线探测器(14)之间，其中，所述阴极侧(304)具有比所述阳极侧(302)更高的衰减系数，并且其中，所述衰减系数被确定以至少部分补偿所述靶角度足跟效应；其中，放置所述过滤器(300)包括使用薄膜沉积技术将材料沉积在X射线管的窗部来形成所述过滤器(300)，其中，所述材料与所述X射线管(10)的阳极板的材料相同，并且其中所述阴极侧(304)厚于所述阳极侧(302)，并且所述阴极侧(304)与所述阳极侧(302)之间的厚度差在50μm和200μm之间，

其中，所述材料是钨或者钨合金。

6.一种用于扫描物体的成像系统，包括：

辐射源(10)，其具有包括阳极板(110)的阳极(108)；

可操作地耦合于所述辐射源(10)和辐射探测器(14)的计算机；以及

具有阳极侧(302)和阴极侧(304)的过滤器(300)，其位于所述阳极和所述探测器之间，其中，所述阴极侧(304)具有比所述阳极侧(302)更高的衰减系数，并且其中，所述衰减系数被确定以至少部分补偿靶角度足跟效应；其中，所述过滤器(300)的放置包括使用薄膜沉积技术将材料沉积在X射线管的窗部来形成所述过滤器(300)，并且其中，所述材料与所述阳极板(110)的材料相同以获得恒定的光谱来校正X射线束的光谱失真，并且其中所述阴极侧(304)厚于所述阳极侧(302)，并且所述阴极侧(304)与所述阳极侧(302)之间的厚度差在50μm和200μm之间，

其中，所述材料是钨或者钨合金。

7.一种用于扫描物体的计算机断层(CT)成像系统，包括：

X射线源(10)，其具有包括阳极板(110)的阳极(108)和阴极(106)；

接收来自所述X射线源(10)的X射线(12)的X射线探测器(14)；

可操作地耦合于所述X射线源(10)和所述X射线探测器(14)的计算机；以及

具有阳极侧(302)和阴极侧(304)的过滤器(300)，其被放置于所述阳极(108)和所述探测器(14)之间，其中，所述阴极侧(304)比所述阳极侧(302)具有更高的衰减系数，其中，所述衰减系数被确定以至少部分补偿靶角度足跟效应，其中，所述过滤器(300)的放置包括使用薄膜沉积技术将材料沉积在X射线管的窗部来形成所述过滤器(300)，并且其中，所述材料与所述阳极板的材料相同以获得恒定的光谱来校正X射线束的光谱失真，并且其中所述阴极侧(304)厚于所述阳极侧(302)，并且所述阴极侧(304)与所述阳极侧(302)之间的厚度差在50μm和200μm之间，

其中，所述材料是钨或者钨合金。