[发明专利]TD-SCDMA/TD-LTE干扰分析仪及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及移动通信技术领域，尤其涉及TD-SCDMA/TD-LTE移动通信系统的扫频与干扰分析技术。

背景技术

目前我国TD-SDMA系统采用F频段（1900-1915MHz）和A频段（2010-2025MHz）共15（或16）个频点进行组网，每个小区的公共信道可在这N个频点上进行异频复用，配置有公共信道的频点即为该小区的主频点，相邻小区的主频点配置需避免同频干扰。

在TD-SCDMA物理层基本处理过程中，扰码用于对信道中的数据部分进行加扰，以便用户在接收到业务数据时区分小区，避免小区间干扰。TD-SCDMA系统中共有128个扰码（0~127），目前一般采用12扰码组的分组方式，为相邻小区分配的扰码对必须在不同码组中，同时由于不同扰码组间互相关性最大值存在大小差异，如果相邻小区的扰码所在的码组间有较强的互相关性，会导致较大的小区间干扰，所以在网络规划时还须尽量避免该情况出现。

TD-LTE系统采用同频组网，下行RS （Reference Signal，参考信号）用于下行信道质量测量与下行信道估计，一个参考信号占用一个RE（资源粒子），目前TD-LTE宏站小区一般采用两天线端口配置，下行RS在天线端口上的映射如图1所示，RS在频谱上的映射位置由PCI决定，TD-LTE系统为每个小区分配一个PCI码，PCI MOD3不等时，可实现RS映射位置在子载波频率上错开，即网络空载下，RS信号相当于N=3的异频组网，可有效降低小区间RS相互干扰，反之，如果相邻小区PCI MOD3相同，RS位置一样，邻区间RS干扰会导致数据吞吐量下降，传输时延增大。

目前TD-SCDMA系统内干扰主要是频点和扰码间干扰，TD-LTE系统则主要有MOD 3干扰，目前市场上主流测试设备的设计在覆盖方面的数据分析侧重于信号强度、质量等指标，对于TD系统特有的频点、扰码、MOD 3干扰分析能力并不强，因此现网中基于道路测试对频点、扰码或PCI的调整效果很难评估，优化方法及支撑数据非常有限，以致出现针对目标路段进行调整后干扰恶化或周边区域出现次生干扰的情况。

随着运营商做深做厚TD-SCDMA和TD-LTE网络的覆盖，网优工作的要求也日趋精细化、复杂化，为了快捷、准确的评估深度覆盖网络质量，做好无线网优化，有必要开发一种便携式的TD-SCDMA/TD-LTE一体式干扰测试仪，以便能够在外场测试中现场采集、分析信号数据，快速计算干扰值，准确评估深度覆盖信号质量，为小区配置参数的规划与调整提供有力的数据支撑。

发明内容

本发明所要解决的问题是提供一种将定位、测试、数据采集、统计分析、呈现与人机对话等功能高度集成的测试仪，能够灵活适用于TD-SCDMA/TD-LTE移动通信网络的干扰分析工作。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：本测试仪的总体结构为工控平板结构，GPS定位模块、无线通信模块、数据采集模块与工控平板电脑交互数据，通信缓冲区利用双口RAM (Random-access Memory，随机访问存储器)实现，通过对该双口RAM进行功能区域划分，可同时对存储单元进行读写操作，各进程相互独立，不需相互等待，保证系统的高速运行。本发明的体系结构采用模块化结构，主要包括以下模块：

1）GPS模块：负责完成经纬度、海拔高度等位置信息的采集；

2）无线测量模块：负责执行TD-SCDMA/TD-LTE系统连接/空闲态下的指标参数测量，包括服务/相邻小区的频点、扰码、PCI码等配置参数，与电平、C/I、SINA值等测量参数。可执行的基本业务有CS/PS域的语音、数据、短/彩信、PING等；

3）数据采集模块：负责采集无线通信模块与GPS模块上报的信号数据与GPS信息；

主控模块：控制和调用其他功能模块，实现人机对话功能，从通信缓冲区读取GPS信息与无线信号指标参数，调用统计分析模块处理信号数据，通过人机界面显示计算结果，完成程序中线程的调度；

4）解码模块：通过消息数据解码动态链接库对接收到的信息进行解码；

5）统计分析模块：按网络类型分类统计，通过统计分析动态链接库对解码后的消息数据进行干扰计算和最小干扰配置组合预判。统计过程中，用户可根据需要自设阀值和条件；

6）数据后台存储模块；从数据缓冲区提取原始消息数据，以LOG文件方式存入磁盘，存储模块置于主控模块中，由主控程序控制。该进程于后台运行，不影响实时分析与呈现速度。