[发明专利]一种用于器件建模的标准单元选择方法有效
申请号: | 201510277904.3 | 申请日: | 2015-05-27 |
公开(公告)号: | CN104899364B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 陈展飞 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06F11/22 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,陈慧弘 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 器件 建模 标准 单元 选择 方法 | ||
1.一种用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S01:建立晶圆上器件与其所在位置具有一一对应关系的器件—单元映射库;
步骤S02:设定标准单元选择条件,在所述映射库中选择独特性标准单元,所述独特性标准单元为包含最多标准器件的单元或某尺寸符合条件的器件仅出现在一个单元上的单元;
步骤S03:当所有的器件在所述映射库中只有一个位置时,生成用于自动化测试的测试文件,完成关键器件的筛选;
其中,步骤S02中,当以包含最多标准器件的单元为选择独特性标准单元的目标时,包括以下步骤:
步骤S0211:若某单元包含数量最多的标准器件时,则选定该单元及该单元上的器件,同时,根据排它性原理,从所述映射库中删除其它单元上的这些器件;
步骤S0212:在剩余的单元中,选择包含数量最多的标准器件的单元作为选定单元,重复步骤S0211的过程;
步骤S0213:对晶圆上的所有单元用上述步骤进行迭代处理,直到所有的器件在所述映射库中只有一个位置为止,所形成的所述映射库即为最优的标准单元选择结果;
或者,步骤S02中,当以某尺寸符合条件的器件仅出现在一个单元上为选择独特性标准单元的目标时,包括以下步骤:
步骤S0221:若某标准器件仅出现在晶圆上某个单元上,则选定该单元,出现在该单元上的符合条件的其它器件也相应被选定,同时,根据排它性原理,从所述映射库中删除该某标准器件在其它单元上的位置;
步骤S0222:在剩余的器件中寻找是否还有标准器件仅出现在晶圆的某个单元上,若有,则重复步骤S0221,直到所有的器件在所述映射库中只有一个位置,最后所形成的所述映射库即为最优的标准单元选择结果;若没有,则继续以下步骤:
步骤S02221:若某单元包含数量最多的标准器件时,则选定该单元及该单元上的器件,同时,根据排它性原理,从所述映射库中删除其它单元上的这些器件;
步骤S02222:在剩余的单元中,选择包含数量最多的标准器件的单元作为选定单元,重复步骤S02221的过程;
步骤S02223:对晶圆上的所有单元采用步骤S02221~S02222进行迭代处理,直到所有的器件在所述映射库中只有一个位置为止,最后所形成的所述映射库即为最优的标准单元选择结果。
2.根据权利要求1所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,步骤S01中,根据测试数据建立所述映射库,并通过对所述映射库的数据进行计算,得到每个器件测试数据中位数的值,存入所述映射库中。
3.根据权利要求1所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,所述标准单元选择条件包括对器件特性值误差的选择。
4.根据权利要求3所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,所述器件特性值误差包括开启电压误差、饱和电流误差或截止电流误差。
5.根据权利要求4所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,所述开启电压误差不大于10毫伏,饱和电流误差不大于3%,截止电流误差不大于50%。
6.根据权利要求1所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,在进行步骤S02221后,判断是否存在还有标准器件仅出现在晶圆的某个单元上的情况,若有,则返回到步骤S0221继续进行,若没有,则返回到步骤S02221继续进行。
7.根据权利要求1所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,所述测试文件包含标准单元和测试信息。
8.根据权利要求7所述的用于器件建模的标准单元选择方法,其特征在于,所述测试文件用于对器件进行计算机自动化测试。
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