[发明专利]用于在吸收光谱法中修正入射光波动的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201510130336.4 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN104949929B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 理查德·P·科瓦契奇;巴赫拉姆·阿里扎德;伊恩·C·加斯金;詹姆斯·D·霍比;马丁·洛佩斯 申请(专利权)人: 仕富梅集团公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 杨生平;钟锦舜
地址: 英国东*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 吸收光谱 修正 入射 波动 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种修正吸收光谱系统内的入射光的强度波动效应的方法,包括步骤:

控制光源发射波长调制光束;

施加至少一个调制突发信号以调制波长调制光束和/或调制与波长调制光束同步的单独光束,所述至少一个调制突发信号是锥形信号调制;

在通过样本介质的透射之后检测一个或多个调制光束;

处理一个或多个所检测光束以获得至少一个所检测突发信号,并测量一个或多个被测对象的吸收效应,其中,所述处理包括将所述至少一个所检测突发信号与施加的至少一个调制突发信号相比较以确定与一个或多个被测对象的吸收效应分离的入射光强度波动,并修正所确定强度波动效应以获得一个或多个被测对象的吸收效应的增加的测量准确度。

2.根据权利要求1所述的方法,包括选择所述至少一个突发信号的至少一个波长区和/或持续时间以将突发信号从一个或多个被测对象的测量吸收线隔离。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光源是具有关联激光偏流的可调谐二极管激光器,并且针对激光器的光束的波长调制,以具有周期T的扫描速率跨一定范围的值反复地扫描激光器的偏流,并且其中,所述突发信号的持续时间小于周期T。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,由光检测器来检测已调制光束,并且所述处理还包括:

处理来自光检测器的输出信号以获得与所检测突发信号成比例的参考信号;并且

使用参考信号来产生已修正信号,所述已修正信号与一个或多个被测对象种类中的一个的浓度成比例。

5.根据权利要求1所述的方法,其中:

在固定相位下对突发信号进行振幅调制;或者

在固定振幅下对突发信号进行相位调制;或者

突发信号被相位调制和振幅调制。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,将突发信号的频率选择成等于被用于至少一个被测对象的吸收效应光谱测量的光源调制频率的谐波频率。

7.根据权利要求4所述的方法,其中,所述处理还包括在作为调制突发信号周期的整数倍的时间段内对参考信号求积分。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,从参考信号减去基线斜坡函数以修正被测对象和任何背景化学种类的选择性残余吸收。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光源是具有关联偏流的二极管激光器,并且施加调制突发信号的步骤包括调制二极管激光器的偏流以产生突发信号。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,由解调检测器来执行检测和处理步骤,并且使用以下各项中的一个来施加突发信号:被同步到解调检测器的外部调制设备;被同步到解调检测器的辅助二极管激光器;或者被同步到解调检测器的发光二极管。

11.根据权利要求6所述的方法,其中,使用相位调制来使突发信号反相。

12.根据权利要求1所述的方法,其中,针对强度波动而修正至少一个被测对象种类的至少一个吸收线。

13.根据权利要求1所述的方法,其中,将锥形信号调制的形状选择成不同于任何自然发生的吸收形状或光学干扰边缘效应的形状。

14.根据权利要求1所述的方法,其中,将突发信号的振幅和宽度中的至少一个选择成基本上大于任何预期自然背景波动。

15.根据前述权利要求任一项所述的方法,其中,使用多个突发信号以便确定光强度波动,并且其中,使用测量光强度的平均来使修正误差最小化。

16.根据权利要求15所述的方法,其中,基于突发信号的所选子集来计算已修正光强度,所述子集包括多个突发信号中的一个或多个。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于仕富梅集团公司,未经仕富梅集团公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510130336.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top