[发明专利]一种点阵列表面增强拉曼基底及制备方法有效

专利信息
申请号: 201510120872.6 申请日: 2015-03-18
公开(公告)号: CN104730059B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 刘坚;叶敏 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257 代理人: 杨明
地址: 215100 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 表面 增强 基底 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:依次包括以下步骤:

a、制备粒径均匀的含铁、钴或镍的金属氧化物的磁性纳米颗粒;

b、在磁性纳米颗粒外包覆金层,得到包金磁性纳米颗粒;

c、制备出具有点阵列式微凹坑的硅片基底;

d、所述硅片基底清洗后吹干;

e、将所述硅片基底亲水处理;

f、在磁铁的吸引作用下,将包金磁性纳米颗粒富集于微凹坑中;

g、清洁硅片基底上外溢于微凹坑的包金磁性纳米颗粒,得到硬质表面增强拉曼基底,

h、将固化前的水凝胶填充覆盖在硬质表面增强拉曼基底上;

i、待水凝胶固化后,将其从硅片基底上剥离,得到软质表面增强拉曼基底。

2.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤a中,所述磁性纳米颗粒为铁氧化物颗粒。

3.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤a中,通过水热法制备粒径均匀的磁性纳米颗粒。

4.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤b中,通过原位生长法在磁性纳米颗粒外包覆金层。

5.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤c中,用光刻法制备出具有微凹坑阵列的硅片基底。

6.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤d中,硅片基底采用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗后,使用氮气枪吹干。

7.根据权利要求1所述的点阵列表面增强拉曼基底制备方法,其特征在于:所述步骤e中,所述硅片基底放入等离子体清洗机中做不低于1min的亲水处理。

8.一种点阵列表面增强拉曼基底,其特征在于:包括硬质表面增强拉曼基底、以及软质表面增强拉曼基底两种形式,其中,所述硬质表面增强拉曼基底包括硅片基底和包金磁性纳米颗粒,所述硅片基底上设置有点阵列式微凹坑,所述包金磁性纳米颗粒富集于所述微凹坑中;所述软质表面增强拉曼基底包括水凝胶基底和包金磁性纳米颗粒,所述水凝胶基底上设置有点阵列式突起,所述突起中包埋有所述包金磁性纳米颗粒,所述包金磁性纳米颗粒为包覆有金层的磁性纳米颗粒。

9.根据权利要求8所述的点阵列表面增强拉曼基底,其特征在于:所述磁性纳米颗粒为铁氧化物颗粒。

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