[发明专利]一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置，其特征在于：包括含有光谱仪的控制器、光学探头Ⅰ、二维移动架、透镜夹具、光学探头Ⅱ、支架以及计算机，所述光学探头Ⅰ、二维移动架和光学探头Ⅱ均固定在支架上，所述透镜夹具装卡在二维移动架上，所述含有光谱仪的控制器通过光纤分别与光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ相连，所述光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ正对设置且两个光学探头的中心位于同一轴线上，所述二维移动架位于两个光学探头之间，且二维移动架与两个光学探头的中心轴线相垂直，所述计算机通过数据线与含有光谱仪的控制器相连接，用以接收数据。

2.利用权利要求1所述的透镜中心厚度测量装置进行的测量的方法，其特征在于：测量步骤为：首先用已知厚度为d的平板进行标定；然后在透镜夹具内放入被测透镜，使其与光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ同光轴，通过计算机控制二维移动架移动，测量出被测透镜某一行厚度的最大/小值，光学测量点通过移动架的移动回到这一行厚度极值点上，通过这一点做垂直于这一行的透镜厚度列扫描，测量出这一列的最大/小值，这个极值点就是测量透镜的中心点，所以所测厚度也为中心厚度；在光学探头Ⅰ处于工作状态，这时候计算机会通过反馈的波长记录下共焦响应信号移动的位移Z1；在光学探头Ⅱ处于工作状态，这时候计算机会通过反馈的波长记录下共焦响应信号移动的位移Z2；最后通过计算机计算显示透镜中心厚度D=d+Z1+Z2。