[发明专利]一种可消除光场畸变的横向剪切数字全息方法有效

专利信息
申请号: 201510068679.2 申请日: 2015-02-10
公开(公告)号: CN104713495B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 潘卫清 申请(专利权)人: 浙江科技学院
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)33230 代理人: 董建军
地址: 310023 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 消除 畸变 横向 剪切 数字 全息 方法
【权利要求书】:

1.一种可消除光场畸变的横向剪切数字全息方法,其特征在于:采用三幅物面相互存在微小平移的全息图,通过波前差分来消除照明光和参考光引入的相位畸变,然后用横向剪切波前重构算法恢复待测物面三维数据,在相同的全息记录条件下,分别记录三幅物面存在相互垂直微小平移的数字全息图,然后通过滤波提取得到以下三个衍射光场

式(5)中Δ是物面的微小平移量;然后将光场相除得到两个有关物表面的横向剪切光场,即

式(6)中的相位不存在任何光场畸变,分别是物体表面沿x和y方向剪切后的差分波前,使用横向剪切波前重构算法可精确还原物表面的二维原始波前;通过数字全息原理构建数学模型进行详细分析,并给出了基于傅里叶展开的横向剪切波前重构算法,从式(6)得到的横向剪切光场中提取相位,并按CCD采样规格做离散化,得到待测物表面波前分别沿x和y方向的差分波前和即

式(7)和(8)中m,n=0,1,2,3ΛN-1,其中s是横向剪切量,将作傅里叶展开得

式(9)和(10)中p,q=0,1,2,...N-1;式(9)和(10)中傅里叶展开系数apq是待测物面wo(m,n)的傅里叶频谱,依据最小二乘法原理,可推导得

式中是实际干涉测量得到的横向剪切差分波前,FTpq{·}表示二维离散傅里叶变换;最后对傅里叶频谱式(11)作傅里叶逆变换即可得到待测波前相位函数wo(m,n);设计一个反射式实验检测光路,光路中人为引进未知的波前畸变对上述重构算法进行实验验证。

2.根据权利要求1所述的一种可消除光场畸变的横向剪切数字全息方法,其特征在于:物面平移横向剪切数字全息的光路入射光经分光棱镜BS分成两束,一束入射到反射镜M做干涉参考光,一束入射到待测物体做物光,待测物体固定在载物台OS上,该载物台可沿x和y两个正交方向做横向平移,载物台上的待测物经成像透镜L成像到CCD面,并且在CCD面上物光与参考光发生干涉产生干涉全息图;设入射到待测物体表面的照明光场为Ul(xo,yo)=Alexp(jwl(xo,yo)),则经物体表面反射的光场为

U′o(xo,yo)=A′lexp{j(wl(xo,yo)+wo(xo,yo))} (1)

式(1)中A′l是反射光振幅,wl(xo,yo)是入射光场波前相位,wo(xo,yo)是待测物体表面波前相位;该携带物体表面信息的反射光经成像透镜L后在CCD面成像形成物光,其光场表达式为

Uo(xi,yi)=Aoexp{j(wl(xi,yi)+wo(xi,yi)+α(xi,yi))} (2)

式(2)中Ao是光场振幅,wl(xi,yi),wo(xi,yi),α(xi,yi)分别是照明光场、物表面波前和成像透镜在CCD面产生的相位分布,式中忽略了成像缩放比例因子;同理,参考光经 成像透镜L变换后在CCD面会产生一个弯曲畸变的光场,设为

Ur(xi,yi)=Arexp{jwr(xi,yi)} (3)

式(3)中Ar是参考光振幅,wr(xi,yi)是参考光在CCD面的波前相位;

物光与参考光叠加产生干涉,干涉条纹被CCD记录下来得到数字全息图,其方程为

I(xi,yi)=|Uo+Ur|2

=|Uo|2+|Ur|2+ArAoexp{j(wr(xi,yi)-wl(xi,yi)-wo(xi,yi)-α(xi,yi))}

+ArAoexp{j(wl(xi,yi)+wo(xi,yi)+α(xi,yi)-wr(xi,yi))} (4)

显然,全息方程(4)的一、二项为零级衍射分量,三、四项为正负一级衍射分量,在离轴全息的条件下,通过滤波可以提取三、四项所对应的衍射光波。

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