[发明专利]一种集成电路检测方法、装置及系统

说明书

本发明实施例公开了一种集成电路检测方法、装置及系统，涉及电子领域，解决了能够检测处于上电状态下的印制电路板上的集成电路的电气参数的问题。具体方案为N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数。本发明用于检测印制电路板上的集成电路的电气参数的过程中。

技术领域

本发明涉及电子领域，尤其涉及一种集成电路检测方法、装置及系统。

背景技术

印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)集成许多不同的集成电路(integrated circuit，IC)以实现某种功能，通常主要采用单板功能和通道功能的检测技术在印制电路板上检测集成电路的质量隐患。可以在印制电路板内嵌检测软件，由内嵌检测软件激励印制电路板，检测仪表或印制电路板接收检测结果；或者，可以由检测仪表激励印制电路板，检测仪表或印制电路板接收检测结果，从而通过印制电路板的功能性故障判断印制电路板上或印制电路板的某个通道内的集成电路的电气参数是否异常，集成电路是否存在质量隐患。所述单板为印制电路板。在印制电路板上检测集成电路为在板检测集成电路。

但是，现有技术只能检测印制电路板或印制电路板的通道级的功能性故障，未能具体到印制电路板中的某个集成电路的质量问题，从而无法准确检测集成电路的电气参数，在印制电路板的功能正常的情况下，而集成电路的电气参数异常的质量隐患无法识别。

发明内容

本发明的实施例提供一种集成电路检测方法、装置及系统，能够检测处于上电状态下的印制电路板上的集成电路的电气参数。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例的第一方面，提供一种印制电路板，包括：

N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数。

结合第一方面，在第一种可实现方式中，

所述第一检测点与所述印制电路板的电源管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的电源管脚连接；

或者，所述第一检测点与所述集成电路的功能管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的外围电路连接。

结合第一方面和第一种可实现方式，在第二种可能的实现方式中，

所述检测电路包括至少一个电阻或至少一个磁性器件。

本发明实施例的第二方面，提供一种检测装置，包括：

检测控制模块，用于设置检测仪表的检测状态，所述检测装置包括所述检测仪表；

所述检测控制模块还用于:控制所述检测仪表连接处于上电状态下的印制电路板的检测电路的第一检测点和第二检测点，所述印制电路板包括N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数；

所述检测仪表，用于检测所述检测电路得到第一检测结果，所述第一检测结果包括与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数；

检测数据处理模块，用于根据所述第一检测结果判断所述与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数是否正常。

结合第二方面，在第一种可实现方式中，

所述检测数据处理模块具体用于：