[发明专利]用于控制激光发射单元的功率的方法及相关装置

说明书

【技术领域】

本发明关于控制激光发射单元的功率，更具体地，关于利用由光检测器集成电路感测到的反射光的功率来控制激光发射单元的功率的方法及相关装置。

【背景技术】

在选择性激光烧结(selective laser sintering，SLS)机的常规光学拾取头单元(optical pick-up head unit，OPU)或光盘驱动器(optical disc drive)中，前置监视器光电二极管传感器(front monitor photodiode sensor，FMD)被用来测量激光二极管的功率，以补偿/调节该激光二极管的功率。然而，FMD增加了光学拾取头单元的制造成本。

另外，激光二极管的功率特性在不同温度的环境下会改变，因此，常规的光学拾取头单元可以包括温度传感器以获得当前的温度，并且光学拾取头单元需要找到激光功率和激光驱动电流在多个不同温度下二者之间的关系以建立多个模型，以及光学拾取头单元可以选择一个模型以补偿/调整激光二极管的功率。然而，温度传感器也增加了光学拾取头单元的制造成本，并且，由于激光二极管各种各样的特性和/或激光二极管老化问题，可能难以找到合适的模型。

【发明内容】

因此，本发明的一个目的是提供一种用于控制激光发射单元的功率的方法和相关装置。

根据本发明的实施例，提供一种用于控制激光发射单元的功率的方法，包含：从一对象接收反射光，其中所述对象反射从所述激光发射单元发射的光；确定所述反射光的功率；以及通过参照所述反射光的功率位准来确定控制信号，以控制所述激光发射单元的功率。

根据本发明的另一实施例，提供一种用于控制激光发射单元的功率的装置，包含光检测器集成电路和功率控制电路。光检测器集成电路用于从一对象接收反射光，其中所述对象反射从所述激光发射单元发射的光。功率控制电路耦接于所述光检测器集成电路，用于确定所述反射光的功率，以及通过参照所述反射光的功率位准来确定控制信号，以控制所述激光发射单元的功率。

上述用于控制激光发射单元的功率的方法和相关装置可节省制造成本，准确地补偿激光二极管的功率。

【附图说明】

图1为根据本发明一实施例的选择性激光烧结机100的示意图。

图2为离线和在线产生的功率控制信号曲线的示意图。

图3为根据本发明一实施例的光盘驱动器300的示意图。

图4为根据本发明第一实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

图5为离线和在线产生的功率控制信号曲线的示意图。

图6为如何获得塑料层374的反射光的功率的示意图。

图7为根据本发明第二实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

图8显示逻辑块寻址和反射光相应的功率。

图9为根据本发明第三实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

图10显示当光盘驱动器300将数据写入到光盘370时激光二极管340的电流，以及用于采样和保持电路的采样信号。

图11为根据本发明第四实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

图12为根据本发明第五实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

图13为根据本发明第六实施例用于控制激光二极管340功率的方法流程图。

【具体实施方式】

在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的元件。本领域中技术人员应可理解，电子装置制造商可能会用不同的名词来称呼同一个元件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分元件的方式，而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。以外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接到第二装置，则代表该第一装置可直接电气连接于该第二装置，或通过其他装置或连接手段间接地电气连接至该第二装置。