[发明专利]一种调节有价文件磁信息检测装置中磁头间隙的方法有效

专利信息
申请号: 201510011763.0 申请日: 2015-01-08
公开(公告)号: CN104484938B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 尹昌能 申请(专利权)人: 广州广电运通金融电子股份有限公司
主分类号: G07D7/04 分类号: G07D7/04
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 曹志霞
地址: 510663 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 文件 信息 检测 装置 调校 磁头 间隙 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及有价文件识别技术,尤其涉及一种金融设备中使用的用于检测诸如纸币类介质的磁性信息的有价文件磁信息检测装置以及磁头间隙的检调校方法。

背景技术

在金融自助设备中为了对批量处理的每一张有价文件逐一进行检验,需要将堆叠的有价文件一张张分离开来,然后对分离的单张有价文件进行图像识别、厚度检测、磁信息检测等识别手段,以保证所处理的纸币的真实性,其中在整个处理过程中,对于磁信息检测时检测磁头与有价文件的接触程度具有较为严格要求,即磁头与压轮之间间隙的稳定性直接影响设备对有价文件磁信息检测的稳定性和可靠性。

目前的有价文件磁信息检测装置主要组成部件如图6所示,其磁头调节结构采用:磁头2相对固定,用软橡胶制作的压轮4通过左偏心轮3、右偏心轮5安装,并可通过左偏心轮3、右偏心轮5调节压轮4的上下位置,以达到调节磁头通道的间隙6(压轮与磁头表面的间隙)的目的。此间隙6是要求保证纸币在磁头的检测有效区域内,也要保证纸币不堵塞,标准值是0.2±0.05mm。

上述的有价文件磁信息检测装置具有如下:

问题1:装配完成后,磁头通道间隙是要在专门的光学仪器上检测,精确度虽然高,但需要移位搬抬操作(光学仪器要求特殊的环境)、调整焦距等,效率较低;

问题2:部件问题不能及早发现。因偏心轮调节范围有限,一旦前工序中磁头板焊接不良或磁头对位装配不良,通过偏心轮无法把磁间隙调节到合适范围,此时只能返工更换磁头,同时造成不必要的工时浪费:重新拆装磁头压轮及其传动机构。

发明内容

本发明为了解决现有技术中磁头通道间隙调整不便,装配复杂的技术问题,提供一种方便磁头间隙调整和检测的有价文件磁信号检测装置,另外还提供一种调整该有价文件磁信号检测装置中磁头间隙的方法。

这种有价文件磁信息检测装置,其包括:

一安装架,用于支撑和安装如下部件,其包括两个相对设置的第一侧板和第二侧板;

一磁头压轮,通过一压轮转轴设置于该第一侧板和第二侧板之间;

一磁头组件,正对设置于该磁头压轮附近,与磁头压轮形成有价文件通过的间隙;

一通道板,与磁头压轮正对设置,形成对有价文件的输送导向作用;

其中,该磁头组件包括获取磁信息的磁头和安装该磁头的磁头座,该磁头座通过调节转轴安装于该第一侧板和第二侧板之间,该调节转轴两端分别设置一偏心轮,该偏心轮的转动带动该调节转轴形成偏心转动,该磁头底座上设有一平行于通道板的长槽,该调节转轴自由置于该长槽内,该通道板限制该磁头沿水平于有价文件通过方向的位移。

优选的,该通道板上设有安装该磁头的槽位,该磁头穿过该槽位与该磁头压轮形成有价文件通过的间隙。

优选的,该偏心轮具有转动调节柄。

本发明所提供的这种磁头间隙的方法,其包括如下步骤:

步骤1,将千分表座安装在与磁头压轮转轴类似的主轴上,并一起安装在第一侧板和第二侧板之间;

步骤2,将对零校验后的数值千分表安装到千分表座上;

步骤3,通过偏心轮调整磁头座,使得磁头与千分表检测点之间的距离为0,即可认为磁头调节已经完成,否则认为磁头有质量问题。

优选的,步骤3具体为:通过偏心轮调整磁头座,使得磁头与千分表检测点之间的距离为0,然后将千分表座在主轴上进行滑动,进行至少两点位检测,当所有点位检测值均为合格的0时,即可认为磁头调节已经完成,否则认为磁头有质量问题。

优选的,所述千分表的对零校验具体包括如下步骤:

步骤01,将有价文件磁信息检测装置固定在光学投影仪上,通过偏心轮对磁头间隙进行调节,当检测的间隙值为规定大小后,固定偏心轮;

步骤02,将磁头压轮拆下,装上装有千分表座的主轴,并装上千分表;

步骤03,将千分表的读书进行归零,完成千分表的对零校验。

与现有技术相比较,本发明提供的有价文件磁信息检测装置具有以下优点:

通过偏心轮调节磁头底座实现对磁头与磁头压轮之间间隙的调节,便于通过千分表进行间隙检测,使得设备调校方便,而且设备的装配程序也大为简化。

附图说明

图1是本方案的有价文件磁信息检测装置的立体图。

图2-1是图1所示有价文件磁信息检测装置的侧向剖面图。

图2-2是图1有价文件磁信息检测装置中磁头座与调节转轴配合的侧向示意图。

图3-1是图1所示有价文件磁信息检测装置中磁头高度向下调节的原理图。

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