[发明专利]间接转换检测器阵列

说明书

技术领域

本申请涉及辐射成像系统的一种间接转换检测器阵列。本申请尤其适用于医疗、安全和/或工业领域，其中，辐射成像系统用于识别/查看被检查的对象的内部特定部位(aspects)。

背景技术

如今，诸如计算机断层扫描(CT)系统、数字投影系统和/或行扫描系统之类的辐射成像系统例如对于提供被检查对象的内部特定部分的信息或图像是有用的。对象被暴露于辐射光子(例如，X射线光子、伽马射线光子等)的射线并且穿过对象的辐射光子通过检测器阵列被检测，该检测器阵列被设置成相对于对象与辐射源大体上径向相对。对辐射光子被对象衰减(例如，吸收、散射等)的程度进行测量以确定对象的一个或更多个属性，或者更确切地说，以确定对象的各个特定部位的一个或更多个属性。例如，对象的高度密集的特定表面相对于不太密集的特定表面而言通常会衰减较多的辐射，因此当具有较高密度的特定表面(诸如，骨骼或金属)被不太密集的特定表面(诸如，组织或衣物)所包围时会很明显。

检测器阵列包括多个检测器元件，所述多个检测器元件分别被配置成对与检测器阵列的预定部分碰撞的辐射进行检测。检测器元件被配置成直接或间接地将辐射光子转换成电荷。直接转换检测器元件被配置成利用光电导体(例如，非晶硒)将辐射光子直接转换成电荷。间接转换检测器元件被配置成利用闪烁体将辐射光子转换成光，并且利用诸如光电二极管之类的光电检测器将光转换成电荷。对于包括间接转换检测器阵列元件的检测器阵列而言，传统检测器元件不共用同一闪烁体并且不共用同一光电检测器。例如，第一检测器元件的第一闪烁体与相邻检测器元件的第二闪烁体通过被配置成减轻第一闪烁体中生成的光被转移到第二检测器元件的反射材料来隔开。通过这种方式，例如减轻了检测器元件之间的光学串扰。

发明内容

本申请的各个方面解决了上述问题以及其他问题。根据一方面，提供了一种检测器阵列。检测器阵列包括闪烁体，所述闪烁体被配置成响应于检测事件生成发光光子。检测器阵列还包括多个光电检测器，所述多个光电检测器位于接近闪烁体的下侧并且被配置成对所述发光光子中的至少一些发光光子进行检测。闪烁体大体上连续地分布在所述多个光电检测器中的至少两个光电检测器上。

根据另一方面，提供了一种检测器阵列。检测器阵列包括闪烁体，所述闪烁体被配置成响应于检测事件生成发光光子。检测器阵列还包括多个光电检测器，所述多个光电检测器位于接近闪烁体的下侧并且被配置成对所述发光光子中的至少一些发光光子进行检测。所述多个光电检测器中的至少两个光电检测器共用闪烁体。

根据另一方面，提供了一种辐射成像系统。辐射成像系统包括辐射源和检测器阵列，所述辐射源被配置成发射辐射光子，以及检测器阵列包括多个检测器元件。所述多个检测器元件中的第一检测器元件包括共用闪烁体的第一部分以及位于接近所述第一部分的下侧的第一光电检测器。所述多个检测器元件中的第二检测器元件包括共用闪烁体的第二部分以及位于接近所述第二部分的下侧的第二光电检测器。

通过阅读和理解所附的说明书，本领域的普通技术人员仍能理解本申请的其他方面。

附图说明

本申请借助于示例进行说明而并非限定于附图中的各图示，其中，相同的附图标记表示相同的元件，并且在附图中：

图1是示出了示例性辐射成像系统的示意性框图；

图2是传统检测器阵列的横截面图；

图3是包括共用闪烁体的检测器阵列的横截面图；

图4示出了示例性检测器阵列的透视图；

图5示出了示例性检测器阵列的透视图；以及

图6示出了示例性检测器阵列的透视图。

具体实施方式

现在参考附图对所要求保护的主题进行描述，其中，全文中相似的附图标记用于表示相似的要素。在以下说明书中，出于解释的目的，对各种具体细节进行了阐述以提供对所要求保护的主题的透彻理解。然而，明显的是，在没有这些具体细节的情况下，也可以实现所要求保护的主题。在其他情况下，以框图形式示出了结构和装置，以便于描述所要求保护的主题。