[发明专利]光学计算装置诊断和处理

权利要求书

1.一种用于光学计算装置诊断和处理的方法，包括：

对工具执行验证测试，所述工具具有包括一个或多个光学元件的校准后的光学传感器，其中，执行所述验证测试包括：

在用于在光学传感器校准期间对所述校准后光学传感器进行校准的一个或多个校准设置点处计算通过所述工具的多种参考流体；以及

在所述一个或多个校准设置点处从每个光学元件的光学信道收集光学传感器响应，并藉此获得一个或多个工具传感器响应；

获得所述一个或多个工具传感器响应并进行预处理；

将所述一个或多个工具传感器响应与在所述光学传感器校准期间从所述校准后的光学传感器推导出的校准后的光学传感器响应进行比较，并且响应于所述一个或多个工具传感器响应与所述校准后光学传感器响应之间的差而检测一个或多个光学传感器异常；

利用一个或多个候选模型通过性能分析来评价所述一个或多个光学传感器异常；以及

选择替代候选模型以缓解所述一个或多个光学传感器异常。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述一个或多个校准设置点包括用于校准所述校准后的光学传感器的相同数量或数量减少的特定温度和压力设置。

3.如权利要求1所述的方法，其中获得来自所述校准后的光学传感器的一个或多个工具响应并进行预处理包括：

引导光与所述多种参考流体相互作用以产生相互作用的光；

将所述相互作用的光作为能量朝向所述校准后的光学传感器的所述一个或多个光学元件传输；

在所述一个或多个光学元件上生成检测器响应作为所述一个或多个工具传感器响应，其中所述一个或多个工具传感器响应被基线校正并标准化以提供标准化工具传感器响应；以及

将所述标准化工具传感器响应从工具数据空间转换成校准数据空间。

4.如权利要求1所述的方法，其中比较所述一个或多个工具传感器响应与校准后的光学传感器响应包括：

在所述校准后的光学传感器的所述光学传感器校准期间计算每个光学元件的光学信道的标准化信号响应以获得标准化光学传感器信号响应；

在所述工具的验证测试期间计算每个光学元件的光学信道的标准化信号响应以获得标准化工具传感器响应；

在一个或多个温度和压力校准设置点下对所述标准化光学传感器信号响应求平均；

在所述一个或多个温度和压力校准设置点下对所述标准化工具传感器响应求平均；以及

相对于每个信道上的光学传感器校准数据的全动态范围而计算所述标准化光学传感器信号响应与所述标准化工具传感器响应之间的百分数差。

5.如权利要求1所述的方法，其中利用候选模型通过性能分析来评价所述一个或多个光学传感器异常包括：

在所述工具的验证测试期间计算每个光学元件的光学信道的标准化信号响应以获得标准化工具传感器响应；

将所述标准化工具传感器响应提供到至少一个仪器标准化模型中；

使用所述至少一个仪器标准化模型变换的工具传感器响应作为预先校准的流体表征模型的候选输入；

利用不同数量的输入来预测所述多种参考流体的流体性质；以及

确定是否需要一个或多个补救选项来缓解所述一个或多个光学传感器异常。

6.如权利要求5所述的方法，其中确定是否需要所述一个或多个补救选项包括使用所述不同数量的输入将工具测试的相对预测变化与针对每种流体性质的光学传感器校准和光学压力-体积-温度校准的变化进行比较。

7.如权利要求1所述的方法，进一步包括当所述替代候选模型未能缓解所述一个或多个光学传感器异常时，寻求一个或多个补救选项。

8.如权利要求7所述的方法，其中寻求所述一个或多个补救选项包括选择并不要求更换所述一个或多个光学元件中的一个或多个的补救选项。

9.如权利要求8所述的方法，进一步包括使用受影响较小的光学信道作为输入来重建所述一个或多个候选模型。