[发明专利]用于分拣松散物料的设备和方法

权利要求书

1.用于分拣松散物料的设备，该设备包括振动传送装置(12)和进料装置(10)，该进料装置给振动传送装置(12)输送松散物料，该设备还包括第一输出端和第二输出端，其中，第一输出端设置为，使得经由振动传送装置(12)端部传送的松散物料落入到第一输出端中，该设备还包括至少一个检测装置(22、26、30、32)，该检测装置构成用于对由振动传送装置(12)传送的松散物料进行缺陷检查，其中，检测装置(22、26、30、32)包括至少一个X射线检测装置(22、26)，该X射线检测装置具有至少一个X射线辐射源(22)和至少一个X射线传感器(26)，并且检测装置(22、26、30、32)包括至少一个在可见的波长范围内工作的和/或至少一个在红外波长范围内工作的光学检测装置(30、32)，该光学检测装置具有至少一个光学辐射源和至少一个光学传感器，所述设备还包括分拣装置(34)，该分拣装置构成用于影响由检测装置(22、26、30、32)识别为有缺陷的、经由振动传送装置(12)端部传送的松散物料的飞行轨迹，使得被识别为有缺陷的松散物料落入到第二输出端中，其特征在于，在振动传送装置(12)端部上连接有转动驱动的辊(28)或者连接有弯曲部段(44)，经由振动传送装置(12)端部传送的松散物料到达所述辊或弯曲部段上并且所述辊或弯曲部段使松散物料以通过辊(28)的转动或通过弯曲部段(44)的曲率预定的飞行轨迹朝向第一输出端的方向传送。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述松散物料是粒料。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述至少一个光学检测装置(30、32)的至少一个光学传感器包括高速传感器，和/或所述至少一个X射线检测装置(22、26)的至少一个X射线传感器(26)包括高速传感器。

4.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述至少一个光学检测装置(30、32)的至少一个光学传感器包括高速传感器，和/或所述至少一个X射线检测装置(22、26)的至少一个X射线传感器(26)包括高速传感器。

5.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述高速传感器是以TDI模式运行的高速传感器。

6.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述高速传感器是以TDI模式运行的高速传感器。

7.根据权利要求1至6之一所述的设备，其特征在于，所述检测装置包括两个光学检测装置(30、32)，其中，第一光学检测装置(30)从上侧检查在转动驱动的辊(28)上的或者在弯曲部段(44)上的松散物料或在离开转动驱动的辊(28)或弯曲部段(44)之后的松散物料，并且当松散物料在离开转动驱动的辊(28)或弯曲部段(44)之后处于自由下落时，第二光学检测装置(32)从下侧检查松散物料。

8.根据权利要求1至6之一所述的设备，其特征在于，所述至少一个光学检测装置(30、32)检查在不被照亮的暗的背景之前的松散物料，其中，所述至少一个光学传感器的聚焦平面位于待检查的松散物料的区域中。

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述至少一个光学检测装置(30、32)检查在不被照亮的黑色背景之前的松散物料。

10.根据权利要求1至6之一所述的设备，其特征在于，在振动传送装置(12)的振动传送器(14、16、18)的底部中构成能被X射线辐射透过的窗口(24)，其中，所述至少一个X射线辐射源(22)透射经由振动传送器(14、16、18)传送的松散物料和窗口(24)，并且所述至少一个X射线传感器(26)检测透射松散物料和窗口(24)的X射线辐射。

11.根据权利要求1至6之一所述的设备，其特征在于，所述转动驱动的辊(28)或所述弯曲部段(44)至少部分地由能被X射线辐射透过的材料构成，并且所述至少一个X射线传感器(26)无相对转动地设置在转动的辊(28)中或者设置在转动的辊(28)下方或上方或者设置在弯曲部段(44)下方或者其上侧上方，其中，所述至少一个X射线辐射源(22)透射经由转动驱动的辊(28)或弯曲部段(44)传送的松散物料，并且透射松散物料的X射线辐射由设置在转动驱动的辊(28)中的或者设置在转动的辊(28)下方或上方的或者设置在弯曲部段(44)下方或其上侧上方的所述至少一个X射线传感器(26)检测。