[发明专利]电机的定子棒的子导体短路检查有效

专利信息
申请号: 201480052711.1 申请日: 2014-09-09
公开(公告)号: CN105593692B 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 克里斯蒂安·施陶巴赫 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/08;G01R31/11;G01R31/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 丁永凡;张春水
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 电机 定子 导体 短路 检查
【权利要求书】:

1.一种用于检查电机的定子绕组棒(1)中的多个彼此绝缘的单导体的方法,所述方法包括:

-将检查信号(U1)耦合输入(100)到所述定子绕组棒(1)的多个所述单导体中,其中所述耦合输入(100)的步骤包括:在所述定子绕组棒(1)的第一部段处或在所述定子绕组棒(1)的第一端部部段(1a)处进行耦合输入,

-确定(200)所述检查信号(U1)的第一分量,其中所述确定(200)的步骤包括:确定所述第一部段处或所述第一端部部段(1a)处的第一反射分量(U2),

-在所述定子绕组棒(1)的第二部段处或所述定子绕组棒(1)的第二端部部段(1b)处将所述检查信号(U1)耦合输入(100a)到所述定子绕组棒(1)的多个所述单导体的至少一个第二选择组中,

-确定(200a)所述第二部段处或所述第二端部部段(1b)处的第二反射分量,

-至少将所述检查信号(U1)的所述第一分量与参考信号(Uref)进行比较(300),以便确定多个所述单导体中的各个单导体之间的绝缘的损坏,其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,所述叠加参考信号与由所述第一反射分量(U2)和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2)进行比较并且与由所述第二反射分量(U2')和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2')进行比较。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括:

-通过所述定子绕组棒(1)的短路、电阻(Z)或特性阻抗(Z0)来端接(110)所述定子绕组棒(1)的第二端部部段(1b)。

3.根据权利要求2所述的方法,

其中所述端接(110)的步骤包括:端接多个所述单导体中的至少一个第一选择组。

4.根据权利要求3所述的方法,

其中多个所述单导体位于所述定子绕组棒的所述第二端部部段(1b)处。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,

其中所述检查信号(U1)包括时间上的电压曲线,所述电压曲线具有限定陡度的至少一个边沿。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,

其中所述检查信号(U1)包括具有至少一个电压脉冲的时间上的电压曲线,所述电压脉冲具有限定陡度的至少一个边沿。

7.根据权利要求5所述的方法,

其中限定的所述陡度为每纳秒0.1伏特至10伏特或更高。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,

其中所述检查信号(U1)是至少一个时间上的电压曲线,所述电压曲线具有在0.1伏特至80伏特的范围中至少一个最大值。

9.一种用于检查电机的定子绕组棒(1)中的多个单导体的设备(10),所述设备(10)包括:

-信号源(12),所述信号源设立用于将检查信号(U1)提供和耦合输入到多个所述单导体中,

-测量设备(14),所述测量设备设立用于确定所述检查信号(U1)在所述定子绕组棒的第一部段处的或第一端部部段处的第一反射分量(U2)和/或透射分量(U3)和在所述定子绕组棒的第二部段处的或第二端部部段处的第二反射分量(U2’),以及用于相对于参考信号(Uref)分析所述第一反射分量(U2)和/或所述第二反射分量(U2')和/或所述透射分量(U3),其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,并且与由所述第二反射分量(U2')和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2')进行比较。

10.根据权利要求9所述的设备(10),

其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,并且与由所述第一反射分量(U2)和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2)进行比较。

11.根据权利要求9或10所述的设备(10),

其中所述电机是发电机。

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