[发明专利]用于使用交错式装置设定与测试来测试数据包信号收发器的方法

说明书

本发明公开了一种方法，该方法使用测试器数据包信号和控制指令以用于测试多个数据包信号收发器受测装置(DUT)。在相互交替时间间隔期间，该相互交替时间间隔中的所选择的时间间隔实质上为同时发生的，使用多个测试器数据包信号和DUT控制指令以用于多个DUT的并行测试。

技术领域

本发明涉及测试数据包信号收发器，尤其是有关于通过使用交错式装置设定与测试来达成更快速测试时间。

背景技术

许多现今的电子装置使用无线技术作为连接及通信这两种目的。因为无线装置发送以及接收电磁能量，且因为两个或更多个无线装置可能因其信号频率及功率频谱密度而干扰彼此的运作，这些电子装置及其无线技术必须遵循各种无线技术标准规格。

在设计此类无线装置时，工程师附加注意要确保此类装置会符合或优于根据其所包括的无线技术所规定标准的每一项规格。此外，当这些无线装置之后进入量产时，其会经测试以确保制造缺陷不会导致不适当的运作，测试项目也包括其是否遵循所包括的无线技术标准的规格。

为了在这些装置制造及组装后对其进行测试，目前的无线装置测试系统(亦称为“测试器”)利用子系统来分析接收自各装置的信号。此类子系统通常至少包括：向量信号产生器(VSG)，其用于提供传输至受测装置的来源信号；及向量信号分析器(VSA)，其用于分析由该受测装置所产生的信号。VSG对于测试信号的产生及VSA所执行的信号分析通常是可编程的，以便允许将每一者都应用于测试各种装置是否遵循各种具有不同频率范围、带宽、以及信号调变特性的无线技术标准。

应易于了解，测试数据包信号收发器(亦称为受测装置(DUT))需要有限量时间。取决于要用来测试DUT的无线技术或标准(且有时候取决于多种无线技术或标准)，完整测试DUT以确认DUT是否适当发挥作用及运作将会耗时更多或更少的测试时间。有时可通过应用各种测试技术缩短这些测试所需的时间，然而进一步在技术上的改变倾向于毫无意义，从而造成报酬递减。因此，测试技术已将重点着重在并行测试多个DUT，使得即使未能可观地缩短每装置实际测试时间，但在该时间间隔内可测试的DUT数目增加，造成测试每DUT的整体时间缩短的净效应，也因此降低每DUT的测试成本。

但是，使用具有单一测试信号来源(例如，单一VSG)及单一测试信号分析器(例如，单一VSA)的测试系统(亦称为测试器)并行测试多个DUT时，通常无法同时对所有DUT执行传输信号测试。这是因为事实上测试信号分析器一次仅可接收、捕获及分析来自一个DUT的传输信号。对于其中单一测试信号来源提供单一测试信号的接收信号测试而言，是有可能使用功率分配器来复制测试信号，并从而对多个DUT提供同时测试信号。但是，在各DUT具有多个接收器(例如，多输入多输出，亦称为MIMO)的情况中，仍需要个别测试各个DUT，这是因为提供相同信号至所有DUT接收端口将无法检测出DUT接收器电路中不良的个别接收器。因此，必须在各测试序列之间控制各个DUT。替代地，可使用多个测试信号来源来产生多串流测试信号，但是如果要以许多DUT的制造测试所需的规模来复制，此类测试信号来源倾向于过分昂贵。

特定来说，DUT测试期间所需要执行的两项任务为：控制(例如，准备或设定)DUT以用于其随后的测试；及允许一段时间使DUT传输器电路能稳定于其稳态运作且从而提供一致传输信号功率。这两项任务通常必须在传输信号测试开始时执行，并且可能比测试器与DUT之间交换测试数据包的持续期间更长(经常长上许多)。

因此，希望具有一种用于测试数据包信号收发器的技术，在该技术中，可将本会因等待DUT初始设定以用于随后的测试序列及其所传输数据包信号的功率稳定而损失的时间，用来执行属于待执行的测试的部分或在其他方面与待执行的测试相关联的有用任务。此外，如果此类测试方法可应用至多个DUT用于同时测试，将可进一步节省时间。

发明内容