[发明专利]图像处理装置、放射线摄影装置以及图像处理方法有效

专利信息
申请号: 201480010991.X 申请日: 2014-03-11
公开(公告)号: CN105025795B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 昆野康隆 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 齐秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 图像 处理 装置 放射线 摄影 以及 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及对由X射线CT装置等放射线摄影装置拍摄到的图像进行处理的图像处理装置以及方法。

背景技术

在医疗领域或无破坏检查的领域中,广泛地使用如下的放射线摄影装置,其将放射线源和排列了多个检测放射线的检测元件的检测器夹持检查对象而对置地配置,通过检测器检测透过了检查对象的放射线,从而生成检查对象的图像。尤其在医疗领域中利用放射线摄影装置,这种放射线摄影装置使放射线源和检测器在检查对象的周围旋转,使用在各种旋转角度下拍摄的投影数据来得到检查对象的断层像,X射线CT装置是其中的代表性装置。在这种放射线摄影装置中,X射线检测器朝向旋转轴方向推进多级化,由此能够在一次旋转中拍摄较大的范围,能够缩短拍摄时间。

另一方面,由于检测器的多级化,随着检测元件数目急剧增加,提高了产生有故障的检测元件(以下记作缺陷元件)的可能性。缺陷元件是因为将光变换为电信号的光电二极管或读取电路的故障或制造不良等而产生的,有时刚制作完装置后就存在,有时伴随着装置的使用而产生。若在CT装置中直接使用产生了缺陷元件的检测器,则会在重构像中产生伪像,妨碍诊断,从而会产生问题。

去除缺陷元件的影响的可靠的方法是将缺陷元件或包括该缺陷元件的检测器更换为新的元件或检测器。但是准备新的检测器除了要花费费用之外,还需要进行更换作业或者在产生缺陷前就准备更换用检测器等,需要较多的费用、作业量、时间。此外,由于应对需要花费时间,因此在临床现场产生了缺陷元件时,会产生装置的失效时间(dead time)。

作为其他的方法,有图像校正。该方法例如如专利文献1所记载的那样,针对取得图像,将周边的正常元件的平均值设为缺陷元件的校正值,能够容易且廉价地迅速地应对,并且是有效的。尤其在临床现场产生了缺陷元件时,能够将装置的失效时间抑制到最小限度,是很有效的方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:JP特开2000-79109号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是,缺陷元件的校正的精度受到摄影部位或装置等条件的影响,有时会产生校正值与本来的输出值(即缺陷元件正常时的输出值)的偏离较大的情况。这种偏离会成为使由各检测元件的输出值构成的投影数据的图像劣化的同时在如X射线CT装置等那样采用各角度的投影数据重构的断层像中产生伪像的原因。

此外,在作为X射线源的焦点的大小较大的情况下,由于通过检查对象的规定部分的放射线的广度较大,因此该放射线也会进入位于本应入射的检测元件(缺陷元件)周围的检测元件。因此,在将这些周围的检测元件的输出值进行了平均化而得到的值中,包括本应入射作为校正对象的缺陷元件的放射线的信息,因此作为校正值的精度较高。换言之,若焦点的大小变小,则校正的精度会下降。

本发明的课题在于,不易发现在现有方法中不能解决的缺陷元件所引起的图像的劣化或伪像。

用于解决课题的手段

本发明不仅对缺陷元件的输出进行校正,而且通过模糊处理来校正用于缺陷元件的校正中的周围的正常元件的出力,从而实现上述课题。

具体地来说,本发明的图像处理装置具备:图像生成部,采用由将多个检测元件排列而成的检测器的各检测元件的输出值构成的投影数据,生成图像;和数据校正部,校正因上述检测器所包含的缺陷元件引起的上述投影数据的不完整性,上述数据校正部具备:推测部,推测上述缺陷元件的输出值;和模糊处理部,采用针对上述缺陷元件推测出的推测输出值,对位于该缺陷元件的周围的检测元件的输出值进行模糊处理;针对上述缺陷元件进行将上述推测输出值设为输出值的校正,针对上述检测元件进行将模糊处理后的输出值设为输出值的校正,上述图像生成部采用由上述数据校正部校正后的投影数据来生成上述图像。

发明效果

根据本发明,在由各检测元件的输出值构成的检测器的数据中,很难发现缺陷元件的输出值偏离。同样地,在重构成像中,因缺陷元件的输出值偏离而产生的伪像被模糊,因此不易发现伪像。

附图说明

图1为适用本发明的X射线CT装置的示意图。

图2为表示X射线检测器的结构例的图。

图3为表示校正处理的顺序的流程图。

图4为表示缺陷元件映射图(map)的一例的图。

图5为表示缺陷元件与用于校正的周围的元件之间的关系的图。

图6为说明缺陷元件校正的一实施例的图。

图7为说明缺陷元件校正的其他实施例的图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480010991.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top