[实用新型]电路板寿命测试试验台有效

专利信息
申请号: 201420802655.6 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN204347157U 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 徐金尧;吴海松;郁军辉;杨悦 申请(专利权)人: 宁波精华电子部件有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 代理人: 李迎春
地址: 315194 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电路板 寿命 测试 试验台
【权利要求书】:

1.一种电路板寿命测试试验台,它包括带有倾斜台面(2)的试验台本体(1),其特征在于:所述试验台本体(1)的上方设有导轨(4),所述导轨(4)上滑动连接一滑动座(5),所述滑动座(5)上通过一组支撑臂(6)连接一用于放置待测试电路板的托盘(3)。

2.根据权利要求1所述的电路板寿命测试试验台,其特征在于:所述一组支撑臂(6)包括第一支撑臂(6.1)和第二支撑臂(6.2),所述第一支撑臂(6.1)的一端铰接在滑动座(5)上,另一端与第二支撑臂(6.2)的一端铰接,所述第二支撑臂(6.2)的另一端与托盘(3)铰接。

3.根据权利要求1所述的电路板寿命测试试验台,其特征在于:所述托盘(3)包括设于中间的托盘座(3.3),以及设在两边的左半托板(3.1)和右半托板(3.2),所述左半托板(3.1)和右半托板(3.2)均可横向调整地固定在托盘座(3.3)上。

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