[实用新型]一种嵌入式系统的调试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及嵌入式系统调试领域，尤其涉及一种嵌入式系统的调试系统。

背景技术

在嵌入式系统的软件开发和测试阶段，都会对编写的程序进行调试。在调试过程中，需要将待调试程序文件下载到嵌入式系统中。

现有技术中，待调试程序文件的下载地址空间为嵌入式系统的快闪记忆体(FLASH)映射的地址空间。此时，现有的调试方法会频繁地将编写、修改后的程序文件下载到所述FLASH中。由于擦写FLASH都比较费时，如果程序文件比较大，每次下载可能需要耗费数十秒。另外每次调试下载，都会擦写FLASH，而FLASH有一定的寿命，因此现有的调试方法会缩短FLASH的寿命，从而影响整个嵌入式系统的寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种嵌入式系统的调试系统，能够解决现有技术中待调试程序文件下载速度慢以及反复擦写FLASH引起的FLASH寿命短，从而影响整个嵌入式系统的寿命的问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种嵌入式系统的调试系统，包括：控制主机、调试电路和嵌入式系统，

所述控制主机通过所述调试电路与所述嵌入式系统连接；

所述控制主机通过所述调试电路向所述嵌入式系统发送控制指令及待调试程序文件；

所述嵌入式系统用于接收所述控制指令，并执行所述控制指令。

进一步地，所述控制指令包括调试模式更改请求和调试指令，所述嵌入式系统包括：总线、调试接口、调试模式寄存器、调试模式控制模块、快闪记忆体、随机存取存储器和控制器，

所述调试接口、所述调试模式寄存器、所述调试模式控制模块和所述控制器分别与所述总线连接，所述调试模式控制模块通过相应的选择性连接部件连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器；

所述调试接口用于接收所述控制指令和所述待调试程序文件；

所述调试模式寄存器用于根据所述调试模式更改请求设置调试模式的值；

所述调试模式控制模块用于根据所述调试模式的值选择连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器；

所述控制器用于运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。

进一步地，所述调试模式寄存器设置为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至随机存取存储器的调试模式后，只会被冷启动复位，所述复位为所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体。

本实用新型所述的嵌入式系统的调试系统通过将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器，免除了擦写快闪记忆体的耗时，提高了待调试程序文件下载至嵌入式系统中的速度，并且由于免除了擦写快闪记忆体，提高了快闪记忆体的寿命，进而提高了嵌入式系统的寿命。

附图说明

为了更加清楚地说明本实用新型示例性实施例的技术方案，下面对描述实施例中所需要用到的附图做一简单介绍。显然，所介绍的附图只是本实用新型所要描述的一部分实施例的附图，而不是全部的附图，对于本领域普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图得到其他的附图。

图1是本实用新型实施例一提供的嵌入式系统的调试系统的结构图。

图2是本实用新型实施例二提供的嵌入式系统的调试方法的流程图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本实用新型实施例中的附图，通过具体实施方式，完整地描述本实用新型的技术方案。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本实用新型的保护范围之内。

实施例一：

图1是本实用新型实施例一提供的嵌入式系统的调试系统的结构图。如图1所示，该调试系统包括依次连接的控制主机101、调试电路102和嵌入式系统103。控制主机101通过调试电路102向嵌入式系统103发送控制指令及待调试程序文件。嵌入式系统103接收到控制主机101发送的控制指令后执行控制指令。

本实施例中，控制主机向嵌入式系统发送的控制指令包括调试模式更改请求和调试指令。

如图1所示，嵌入式系统103包括：

总线113。

调试接口123，与总线113连接，用于接收控制主机101发送的控制指令和待调试程序文件。