[实用新型]检测单齿大径的通规

说明书

技术领域

本实用新型属于大径检测领域，具体地说，尤其涉及一种检测单齿大径的通规。

背景技术

单齿花键孔完成加工后，需要检测其大径尺寸是否超差。现有的检测方式是先利用光学显微镜获取产品图像，再通过人工方式来看花键孔的大径。由于光学显微镜获取产品图像的分辨率低，人工获取花键孔大径的过程中就存在较大的误差，且不同的检测人员得出的检测结果可能有很大差异，甚至于完全不同，为此急需解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种检测单齿大径的通规，欲提高检测精度。

本实用新型的技术方案如下：一种检测单齿大径的通规，其特征在于：该通规的本体(1)为四段式阶梯结构，从左往右依次为防碰伤圆柱段(1a)、外花键段(1b)、手握圆柱段(1c)和定位基准圆柱段(1d)构成，其中：所述防碰伤圆柱段(1a)的长度为8mm，其直径为所述外花键段(1b)的长度为30mm，其大径为其中径为且所述手握圆柱段(1c)的长度为115mm；所述定位基准圆柱段(1d)的长度为10mm，其直径为

在以上技术方案中，所述定位基准圆柱段(1d)用于定位，以便外花键段(1b)精确地检测单齿大径的尺寸，进而有效判断单齿大径的尺寸是否超过规定的下偏差，且本通规的结构简单，易于制造，检测方便，具有很好的实用性。

所述防碰伤圆柱段(1a)与外花键段(1b)的连接处加工有退刀槽，且所述手握圆柱段(1c)的外圆面滚有网纹。

在上述结构中，所述退刀槽能够方便加工，而网纹便于检测人员手握。

有益效果：本实用新型的定位基准圆柱段用于定位，以便外花键段精确地检测单齿大径的尺寸，进而有效判断单齿大径的尺寸是否超过规定的下偏差，且本通规的结构简单，易于制造，检测方便，具有很好的实用性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

如图1所示，一种检测单齿大径的通规，该通规的本体1为四段式阶梯结构，从左往右依次为防碰伤圆柱段1a、外花键段1b、手握圆柱段1c和定位基准圆柱段1d构成。其中：防碰伤圆柱段1a的长度为8mm，其直径为所述外花键段1b的长度为30mm，其大径为其中径为且所述手握圆柱段1c的长度为115mm；所述定位基准圆柱段1d的长度为10mm，其直径为所述防碰伤圆柱段1a与外花键段1b的连接处加工有退刀槽，该退刀槽的长度为2mm，其外径为18mm，且手握圆柱段1c的外圆面滚有网纹。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不以本实用新型为限制，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。