[实用新型]自动测试分选机的顶针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其是一种自动测试分选机的顶针。

背景技术

自动测试分选机因其测试的高效率被众多的芯片封装厂家购买并应用于生产中，自动测试分选机的应用在提高生产效率的同时，也存在了一些不足：即产品因自动设备的测试受压，导致产品外观（电镀层）受到不同程度的损伤，严重影响了产品的外观，同时，因测试顶针装置的安装位置和顶针装置的结构不同，自动测试的产品还经常出现误判等情况。在行业竞争日益激烈的今天，产品的外观和产品可靠性越来越受到使用厂家的高度关注，晶体管生产厂家不仅要满足测试效率高问题，同时还要满足不损坏产品的外观和造成的误判问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种自动测试分选机的顶针，与晶体管接触时，做到接触充分，且又能充分保护晶体管的外观，克服了现有测试分选机因顶针装置不合理导致的晶体管产品外观损伤和因接触不良导致的产品误判，提高了晶体管的合格率及产品可靠性。本实用新型采用的技术方案是：

一种自动测试分选机的顶针，包括一个硬质圆柱体，在硬质圆柱体的尾端和中部周面上开有两个卡槽，上卡簧和下卡簧分别卡在硬质圆柱体的尾端和中部周面上开的卡槽内；在上卡簧至下卡簧之间的硬质圆柱体上依次套设有活动卡销和弹簧，活动卡销的周面上设有一圈凹槽；在硬质圆柱体的顶端开孔并在孔内安装有软垫。

进一步地，所述硬质圆柱体为钢制圆柱体。

进一步地，活动卡销为活动铜卡销。

进一步地，软垫为耐高温柔性软垫。

本实用新型的优点在于：

1.在自动测试分选机轨道上安装方便，占用空间小、控制力度可调、可以达到良好的效果。

2.能在高温、低温、潮湿环境下运行。

3.相比于普通顶针，可确保产品外观完好，无损伤。

4.顶针与晶体管完全接触，确保产品分选正确。

附图说明

图1为本实用新型的结构组成示意图。

图2为本实用新型的顶针所装位置的测试轨道立体图。

具体实施方式

下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

本实用新型所提出的自动测试分选机的顶针，如图1所示，包括一个硬质圆柱体105，该圆柱体105为Φ4.5mm钢制圆柱体；在硬质圆柱体105的尾端和中部周面上开有两个卡槽，上卡簧101和下卡簧104分别卡在硬质圆柱体105的尾端和中部周面上开的卡槽内，其中，上卡簧101内径4mm、外径9mm，下卡簧104内径4mm、外径9mm。在上卡簧101至下卡簧104之间的硬质圆柱体105上依次套设有活动卡销102和弹簧103，活动卡销102的周面上设有一圈凹槽；其中，活动卡销102为内径4.7mm、中径6mm、外径11.5mm的活动铜卡销，弹簧103的丝直径0.5mm、外径6mm，长度15mm。在硬质圆柱体105的顶端开孔并在孔内安装有耐高温柔性软垫106。

顶针的动作过程说明：如图1所示，上卡簧101和下卡簧104限制圆柱体105上的活动卡销102和弹簧103的位置，在活动卡销102的凹槽处施加外力可控制顶针体向前和向后移动，顶针体向前移动至高温产品（如三极管等晶体管）表面并顶住高温产品，此时弹簧103起缓冲作用，防止直接硬性压伤产品，耐高温柔性软垫106的作用是与产品实现软接触，防止产品外观变形或损伤。

顶针安装在测试轨道中的动作说明：如图2所示，连接杆1至少有两横两竖共四根，构成一个框架；内侧顶针座5、8、10从上到下依次固定在内侧的连接杆1上，外侧顶针座14、12从上到下依次固定在外侧的连接杆1上；内侧顶针组4、9、11的活动卡销分别卡在各内侧顶针座上；外侧顶针15、13的活动卡销分别卡在各外侧顶针座上。内轨道3和外轨道2相对固定设置（为了减少线条显示的更加清楚，没有画固定内轨道3和外轨道2的线条，特此说明），内轨道3和外轨道2上均设有开孔，用于供顶针的顶端和顶端的软垫穿过。驱动气缸6的气缸杆连接内侧的连接杆1，能够带动整个连接杆1构成的框架。

当驱动气缸6的气缸杆伸出时，连接杆1带动外侧顶针座14、12向外动作，外侧顶针座14、12带动外侧顶针15、13向外动作，外侧顶针15、13的顶端向外缩出外轨道2，同时连接杆1带动内侧顶针座5、8、10也向外运动，内侧顶针座5、8、10带动内侧顶针组4、9、11向外运动，这时晶体管7就由重力作用向下运动一次，被下方的内侧顶针组的顶端软垫所顶压住，顶压部位是晶体管的背面（图2在的内侧面）。

当驱动气缸6的气缸杆缩回时，连接杆1带动外侧顶针座14、12向内动作，外侧顶针座14、12带动外侧顶针15、13向内动作，外侧顶针15、13的顶端连带软垫从外轨道2向内伸出，可以顶压晶体管7的正面，同时，连接杆1带动内侧顶针座5、8、10也向内运动，内侧顶针座5、8、10带动内侧顶针组4、9、11向内运动，内侧顶针组4、9、11的顶端向内缩出内轨道3，这样晶体管7就由重力作用又向下运动一次。在驱动气缸如此往复带动下，就可以达到晶体管一个一个往下动作，便于测试。