[实用新型]斜插式中心导体法磁粉检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种磁粉无损检测装置，斜插式中心导体法磁粉检测装置。

背景技术

对于筒形件的内壁磁粉检测，从检测原理来说，可以采用中心导体法来检测。但并不是所有筒形件内壁都可以实现检测，其检测受内孔尺寸及筒形件长度限制，孔径越小，长度越长，检测的实施就越是困难。在检测实施中，主要存在下述问题：

1)施加磁悬液时，只能喷洒到筒形件内孔的端口部位，中间部位无法喷到。

2)抽离铜棒时，容易与筒形件内壁发生碰擦，存在擦掉磁痕的可能，造成检测失真。

3)观察评定时，只能观察到端口的很少部位，内孔中间部位无法观察。

由于以上问题的存在，使得传统中心导体法检测小口径筒形件内壁的结果可靠性得不到保障。

发明内容

本实用新型的目的是针对上述现状，旨在提供一种可对小口径筒形件内壁进行有效检测，能解决芯棒水平夹持中磁悬液喷洒问题，观察方便，可有效避免芯棒擦除磁痕，检测结果准确可靠的斜插式中心导体法磁粉检测装置。

本实用新型目的的实现方式为，斜插式中心导体法磁粉检测装置，下限制块固定在磁粉机左电极的下端，上限制块固定在磁粉机右电极的上端，支撑块上端面为斜面；下定位块固定在支撑块斜面的下端、上定位块固定在支撑块斜面的上端；支撑块斜面及上、下定位块上面有凹槽，筒形工件置于支撑块斜面凹槽上，芯棒从限流片中心孔以及筒形工件内孔穿过，两端置于上、下定位块凹槽上；

芯棒斜面夹角θ＝arccos(H/L)式中，L为芯棒长度，H为上、下限制块的垂直间距；

支撑块斜面倾角为(90°-θ)。

采用本实用新型检测，磁化过程中，从筒形工件上端口注入磁悬液，反复多次磁化，直至内孔注满。移动筒形工件使其与限流片分离，磁悬液开始流走，继续进行磁化，直至磁悬液流完。抽离芯棒，取出筒形工件，借助内窥镜进行内壁观察，评定磁痕显示结果，完成检测。

本实用新型可对小口径筒形件内壁进行有效检测，能解决芯棒水平夹持中磁悬液喷洒问题，观察方便，可有效避免芯棒擦除磁痕，检测结果准确可靠。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图，

图2为图1的A-A向图，

图3为图1中B部位的局部放大图。

具体实施方式

下面参照附图详述本实用新型。

参照图1、2、3，下限制块2固定在磁粉机左电极1的下端，上限制块9固定在磁粉机右电极10的上端，支撑块7上端面为斜面。下定位块3固定在支撑块斜面的下端、上定位块8固定在支撑块斜面的上端。支撑块斜面及上、下定位块上面有凹槽，筒形工件5置于支撑块斜面凹槽上，芯棒6从限流片4中心孔以及筒形工件5内孔穿过，两端置于上、下定位块凹槽上。使得筒形工件与芯棒固定不动，保持相对固定位置；将筒形工件、限流片、下定位块三者互相压紧。

芯棒斜面夹角θ＝arccos(H/L)式中，L为芯棒长度，H为上、下限制块的垂直间距。芯棒直径d≥8mm；芯棒长度L＝(30～50)d。

支撑块斜面倾角为(90°-θ)。

采用本实用新型检测，移动芯棒6使其左端置于磁粉机左电极1和下限制块2交界处、右端置于磁粉机右电极10和上限制块9交界处，移动磁粉机右电极，夹持芯棒；由于磁粉机左电极、磁粉机右电极、下限制块、上限制块的作用，芯棒被夹紧。

从筒形工件上端口开始注入磁悬液，灌注过程中同时通电磁化，每次磁化时间为1～3S，反复多次磁化，直至内孔注满。往支撑块斜面上方移动筒形工件，使其与限流片分离，磁悬液开始流走，此过程中继续进行磁化，直至磁悬液流完。

松开磁粉机右电极，用手按住芯棒与上定位块，缓慢平稳的抽离芯棒，在上定位块、下定位块的作用下保持芯棒与内孔的相对位置，使芯棒抽离过程不碰触内壁。

取出筒形工件，借助内窥镜进行内壁观察，评定磁痕显示结果，完成检测。

本实用新型可对小口径筒形件内壁进行有效检测，能解决芯棒水平夹持中磁悬液喷洒问题，观察方便，可有效避免芯棒擦除磁痕，检测结果准确可靠。