[实用新型]一种塞规

说明书

技术领域

本实用新型涉及机械零件检验技术领域，特别涉及一种塞规。

背景技术

在机械零件的制造和检验行业中，塞规通常用于对零部件上精度要求高的孔的内径进行检验，通过简单的操作，便能够快速准确的判断出被检验孔的孔径是否符合设计要求。

目前通用塞规的结构图1所示，其外形上看一般为圆柱体，中间部分(有防滑滚花)为手柄02，两端凸起部位用于检验，分别以通端01和止端03命名。通常被检验孔的公差较小，因此用肉眼从两端的大小上不易区分出通端和止端。为了便于区分通止端，在实际制作塞规时，往往会将通端01做长一些，止端03做短一些，同时在手柄02的两末端刻标识，具体为靠近通端处刻T，靠近止端处刻Z。使用时先将通端01插入被检测孔中，拔出后再将止端03插入孔中。合格孔的判定：通端01插能顺利插入孔孔，同时止端03不能插入孔中。不合格孔的判定：通端01不能插入孔中或者止端03能插入孔中。

目前，通用塞规虽然使用比较普遍，但是它的结构上还存在着不足之处，给使用带来了不便，使得工作效率的提高受到了限制。主要问题在于：

1.检测时通端不易插入孔中。原因：通、止端的头部只有简单的倒角或倒圆，其结构可以参照图1所示，在检验工件孔时，操作者不能很好地保证赛规与孔的同心度，导致塞规会左右摇晃，不易插入孔中。

2.划伤孔的表面、影响光洁度。原因：一般塞规的倒角为45°或30°，且倒角尺寸较小(0.5～1)，通常被检测孔的孔径与通、止端的轴径相差极小，因此在将塞规插入被检测孔中时，倒角或倒圆边会将孔口毛刺向孔内挤压，从而划伤孔的表面、影响光洁度，还极易划伤孔的表面，影响光洁度。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供了一种塞规，其通端易插入待检测孔中。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种塞规，包括通端、止端和连接在两者之间的手柄，还包括设置在所述通端的端部的第一引导部分，和设置在所述止端的端部的第二引导部分；

所述第一引导部分的外表面到所述通端的中轴线的距离，小于所述通端的半径；

所述第二引导部分的外表面到所述止端的中轴线的距离，小于所述通端的半径。

优选的，所述第一引导部分和所述第二引导部分均为圆柱结构。

优选的，所述第一引导部分的直径比所述通端的直径小0.2mm。

优选的，所述第二引导部分的直径比所述止端的直径小0.2mm。

优选的，所述第一引导部分和所述第二引导部分的端部均设置有倒角。

优选的，所述第一引导部分和所述第二引导部分端部的倒角为30°或45°。

优选的，还包括连接在所述通端和所述第一引导部分之间的第一圆锥体，和连接在所述止端和所述第二引导部分之间的第二圆锥体。

优选的，所述第一圆锥体和所述第二圆锥体的锥度均为10°～15°。

优选的，所述第一引导部分可拆卸连接于所述通端的端部。

优选的，所述第二引导部分可拆卸连接于所述止端的端部。

从上述的技术方案可以看出，本实用新型提供的塞规，通过在其两端均增加引导部分，并将引导部分的轴径设计的比相邻检测端的直径小；引导部分的采用可以有效解决问题：检测时通端易插入。在插入的过程中，引导部分能够轻易的插入孔中，且左右晃动很小，能够很好的起到导向作用，保证了塞规检测部位与孔的同心度，因此通端能顺利的插入合格的孔中。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中塞规的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的塞规的结构示意图。

其中，在图1的现有技术中，01为通端，02为手柄，03为止端；

在图2的本方案中，11为通端，12为手柄，13为止端，14为第一引导部分，15为第二引导部分，16为第一圆锥体，17为第二圆锥体。

具体实施方式

本实用新型公开了一种塞规，其通端易插入待检测孔中。。