[实用新型]一种红外测温仪器的冷却装置

说明书

技术领域

本实用新型属于热加工技术领域，具体涉及一种热像仪或测温仪等红外测温仪器的冷却装置。

背景技术

热像仪或测温仪等红外测温仪器具有非接触测温、测温速度快、量程大的优点，目前已被应用于石化、电力、钢铁、制造业等领域，用于电力设备、钢包、驱动精轧机的大功率电机等设备和构件的热测量，提高设备运营可靠性；并用于金属零件铸造和锻造、金属零件局部热处理、激光沉积制造等领域的热加工过程实时温度检测，控制过程温度保证加工质量。但从红外测温原理可知，影响红外测温精度的因素众多，主要包括被测物体发射率、环境温度和湿度、红外测温仪器自身温度等诸多因素，其中被测物体发射率可通过黑体对被测物体发射率进行标定；环境温度和湿度等因素受实际工况环境影响，无法预先设置准确温度补偿，需通过现场测温标定；环境温度不同会导致红外测温仪器自身温度变化，进而造成的测量温度漂移可通过以温度为参考的钳位系统实现温度漂移补偿，但是该钳位系统要求参考温度必须低于测温仪器的极限工作温度，极限工作温度要求一般最高为60℃。

近年来，在金属零件铸造和锻造、金属零件局部热处理、激光沉积制造等热加工领域需使用热成像仪和测温仪等红外测温仪器进行热加工过程的实时温度检测，但是上述领域环境温度较高，被测高温物体附近环境温度通常可达100-200℃，使红外测温仪器工作温度超出其极限工作温度，导致所测温度漂移较大甚至损坏红外测温仪器。因此红外测温仪器需要相应的冷却装置，保证红外测温仪器在高温环境下正常工作并保证测温准确性，这成为测温仪器在上述领域应用的必要条件保障。

发明内容

针对红外测温仪器工作环境温度过高导致所测温度漂移较大、损坏红外测温仪器的现象，本实用新型所要解决的技术问题是热成像仪工作环境温度过高导致热成像仪温度漂移较大、损坏热成像仪，其采用水冷式散热器给红外测温仪器散热，使得红外测温仪器在高温环境中工作时内部元件温度稳定在其工作温度要求之内。

本实用新型所采用的技术方案为一种红外测温仪器的冷却装置，其包括：水冷式散热器、温度采集芯片和隔热棉；所述水冷式散热器和温度采集芯片通过导热硅粘连在红外测温仪器的外壳上，红外测温仪器没有粘连水冷式散热器的部分采用隔热棉包裹；所述水冷式散热器通过水管分别与流量计、水泵和制冷泵相连接；所述温度采集芯片和流量计的信号连接至单片机控制器的I/O口，所述水泵与制冷泵的电源线接至单片机控制器的控制端口。

所述红外测温仪器外壳上并联设有若干水冷式散热器构成散热系统。

本实用新型的优点如下：

(1)红外测温仪器的外壳上粘连多个分体式水冷式散热器，并采用多路水管并联的方式连接，散热器可根据不同测温仪器外壳形状进行设计制造，通过接触传热的方式带走红外测温仪器内部及周边的热量，达到降温的目的，保证了红外测温仪器工作温度的稳定，避免了由于红外测温仪器自身温度过高导致的温度漂移。

(2)采用单片机、温度检测芯片及流量计监控红外测温仪器壳体温度反馈控制水冷式散热器中的流量及冷却水的温度，保证红外测温仪器自身工作温度可控，满足不同环境温度下测温仪器工作温度的稳定性。

(3)本冷却装置采用隔热棉将红外测温仪器和水冷式散热器包裹，使其与周边环境隔离，减小周边高温区域通过热对流及热传导的方式传递给红外测温仪器更多的热量，保证红外测温仪器工作的稳定，同时避免水冷式散热器对热加工环境的影响。

附图说明

图1为本实用新型具体工作的流程图；

图2水冷式散热器内部示意图；

图3红外测温仪器冷却装置工作示意图；

图中：1、温度采集芯片，2、水冷式散热器，3、红外测温仪器，4、隔热棉，5、单片机控制器，6、流量计，7、水泵，8、制冷泵。

具体实施方式

为了进一步了解该红外测温仪器的冷却装置，下面结合附图说明如下。

其将水冷式散热器2与温度采集芯片1通过导热硅粘连在红外测温仪器3的外壳上，并将红外测温仪器其余部分使用隔热棉4包裹。多个水冷式散热器2采用并联连接组成散热系统，采用水管将流量计6、水泵7、制冷泵8与散热系统串联连接；将温度采集芯片1与流量计6的信号线连接至单片机控制器5的I/O口，将水泵7与冷却泵8的电源线接至单片机控制器5的控制端口。

本实用新型的工作过程如下：单片机控制器5通过温度采集芯片1实时采集红外测温仪器的壳体温度，将采集的温度与设定的温度进行比较；当采集的壳体温度大于设定的温度时，通过加大冷却水流量或开启制冷泵8达到给红外测温仪器降温的效果；当采集的壳体温度小于设定的温度，则减小冷却水流量或关闭制冷泵8；将红外测温仪器3壳体温度维持在设定的温度及给定的温度偏差之内。