[实用新型]一种多通道磁记忆检测装置有效

专利信息
申请号: 201420500331.7 申请日: 2014-09-02
公开(公告)号: CN204065019U 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 姚海峰;杜剑平;祝彬彬;潘振敏;安璐;李丹宁 申请(专利权)人: 贵州省机电研究设计院
主分类号: G01N27/87 分类号: G01N27/87
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550003 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 通道 记忆 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种检测装置,属于无损检测领域。

背景技术

金属磁记忆检测法是一种能以高准确度确定检测对象上以应力和应变集中区为标志的最危险区域的无损检测方法,可以通过早期的诊断较为准确地评价设备的安全性。金属磁记忆监测装置的探头的尺寸通常很小,可以方便实现单点测量。

现阶段,大多数筒体的磁记忆无损检测方法是通过一个磁敏探头在筒体表面处沿筒体的长度方向做往复运动,同时,磁敏探头每次运动到筒体的端部时,将磁敏探头和筒体在筒体圆周方向上的相对位置进行调整,从而通过磁敏探头的多次往复运动实现对筒体全面的磁记忆检测。这种检测方法十分繁琐,不但需要磁敏探头大量的往复运动才能对筒体进行全面检测,检测周期长,效率低;还要控制好每次磁敏探头和筒体在筒体圆周方向上相对位置的调整量,一旦调整量过大,就有可能造成筒体上部分位置的漏检。

现阶段磁记忆检测时探头通常为手持方式,探头与被测对象之间的角度和提离高度会在一定的情况下受到人为因素的影响,从而会造成测量结果的偏差。

发明内容

本实用新型的目的在于:提供一种多通道磁记忆检测装置,以解决现有筒体磁记忆检测周期较长,检测效率低,浪费人力物力的,同时,一旦控制不当很有可能造成部分位置漏检的问题。

本实用新型的方案如下:一种多通道磁记忆检测装置,包括磁敏探头,还包括电动推杆和支架,电动推杆的固定端固定设置在支架上,电动推杆在支架上沿圆周方向分布,且每个电动推杆的推杆端头都朝向所述圆周的中心设置,每个电动推杆的推杆端头处都固定有磁敏探头,磁敏探头沿着所述圆周方向交错分布,且沿所述圆周方向上的任意两相邻磁敏探头在所述圆周方向上首尾相连或部分重叠。

所述支架为圆筒形结构,支架的内壁上沿其圆周方向开设有推杆定位槽,电动推杆的固定端固定设置在推杆定位槽内,且电动推杆的推杆沿支架的径向设置。

所述磁敏探头至少有两组,每组的磁敏探头沿同一个圆周方向均匀分布,且每组的磁敏探头所组成的圆周与其他组的磁敏探头所组成的圆周同轴,每组中的磁敏探头与其他组中的磁敏探头沿圆周方向交错分布。

相邻两组磁敏探头之间设置有逆磁性材料。

所述电动推杆沿着支架的圆周方向均匀分布,每个推杆定位槽内一一对应地固定设置有一个电动推杆。

所述支架的底部固定设置有机座。

磁敏探头上还设置有限位器。

本实用新型与现有技术相比,主要优点如下:

1)磁敏探头交错设置在圆筒形的支架内,同时,沿支架圆周方向上的任意两相邻磁敏探头在支架的圆周方向上首尾相连或部分重叠,进入圆筒形支架内进行检测的物体在穿过支架的过程中,可保证所述物体的各处都会被磁敏探头所检测到,从而,待检圆筒只需在圆筒形支架的内部穿过一次即可完成检测,大大缩短了检测周期,提高了检测效率,减少了检测的工作量;

2)无需将磁敏探头和筒体在筒体圆周方向上的相对位置进行调整,从而消除了漏检的可能;

3)将磁敏探头固定在电动推杆的推杆端头处,使得磁敏探头的位置可以沿着推杆的长度方向运动,从而可以根据待检圆筒直径的不同调整磁敏探头处于适当的检测位置,实现对不同直径筒体的无损检测,如果没有电动推杆则只能检测特定外径的圆筒,降低了装置使用的局限性。

附图说明

图1是本实用新型的主视结构示意图;

图2是图1中A-A向的剖视结构示意图;

图3是图2中支架及磁敏探头的平面展开图示意图;

图4是图2中限位器与磁敏探头处的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型作进一步地详细描述,

结合图1、图2、图3和图4,本实用新型实施例提供了一种多通道磁记忆检测装置,包括:

磁敏探头1,还包括电动推杆2和支架3,电动推杆2的固定端固定设置在支架3上,电动推杆2在支架3上沿圆周方向分布,且每个电动推杆2的推杆端头都朝向所述圆周的中心设置,每个电动推杆2的推杆端头处都固定有磁敏探头1,磁敏探头1沿着所述圆周方向交错分布,且沿所述圆周方向上的任意两相邻磁敏探头1在所述圆周方向上首尾相连或部分重叠,如此设置,进入圆筒形的支架3内进行检测的圆筒在穿过支架的过程中(尽量保证进行检测的圆筒与支架3同轴,检测效果最好),可保证所述物体的各处都会被磁敏探头1所检测到,从而,圆筒只需在圆筒形支架的内部穿过一次即可完成检测;

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