[实用新型]晶体振荡器试验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种晶体振荡器试验装置，晶体振荡器最高输出频率为200MHz。

背景技术

目前国内晶体振荡器试验装置最高监测频率为20MHz，输出频率在20MHz以上的没监测晶体振荡器的输出。对于更高的晶体振荡器输出的监测必须解决解决以下问题：①如何将200M高频信号从高温试验箱内试验板上的试验器件输出的频率信号传输出来监测；②被试晶体振荡器间的相互干扰。

发明内容

为了克服现有晶体振荡器试验装置中缺少对20MHz以上的输出频率的监测的缺陷，本实用新型提供了一种安全可靠的晶体振荡器试验装置。

本实用新型采用的技术方案是：

晶体振荡器试验装置，包括高温试验箱、测试板、控制板、监测仪表以及试验电源，所述的测试板上安装有被试晶体振荡器，所述的测试板位于高温试验箱内，所述的控制板位于控制腔内，所述的测试板与所述的控制板连接，所述的监测仪表与所述的控制板连接，所述的控制板与所述的试验电源的输出端电连接，其特征在于：还包括高频吸收回路，所述的控制板包括试验电压控制板和信号传输阵列控制板，所述的试验电压控制板和信号传输阵列控制板之间设置有所述的高频吸收回路，所述的试验电压控制板与所述的高频吸收回路的输入端连接，所述的高频吸收回路的输出端与所述的被试晶体振荡器连接，所述的被试晶体振荡器与所述的信号传输阵列控制板连接，所述的信号传输阵列控制板与所述的监测仪表连接。

进一步，所述的试验电源、试验电压控制板、信号传输阵列控制板以及监测仪表均连接一控制器。

进一步，所述的测试板通过对接组件与所述的控制板连接。

晶体振荡器的试验要求为施加额定的工作电压，监测其输出频率，并保持其壳温到设定的温度。

试验过程试验电源输出通过控制板而输出恒压，并对每个晶体振荡器添加高频吸收回路后加到被试晶体振荡器上，控制板上对应每个被试晶体振荡器通过巡回监测被试晶体振荡器的输出的状态。

本实用新型的有益效果体现在：1、试验高频信号传输；2、试验器件高频吸收。

附图说明

图1是本实用新型整体结构示意图。

图2是本实用新型工作原理图。

具体实施方式

参照图1和图2，晶体振荡器试验装置，包括高温试验箱1、测试板2、控制板3、监测仪表6以及试验电源5，所述的测试板2上安装有被试晶体振荡器4，所述的测试板2位于高温试验箱1内，所述的控制板3位于控制腔7内，所述的测试板2与所述的控制板3连接，所述的监测仪表与所述的控制板3连接，所述的控制板3与所述的试验电源5的输出端电连接，还包括高频吸收回路，所述的控制板包括试验电压控制板和信号传输阵列控制板，所述的试验电压控制板和信号传输阵列控制板之间设置有所述的高频吸收回路，所述的试验电压控制板与所述的高频吸收回路的输入端连接，所述的高频吸收回路的输出端与所述的被试晶体振荡器连接，所述的被试晶体振荡器与所述的信号传输阵列控制板连接，所述的信号传输阵列控制板与所述的监测仪表连接。

进一步，所述的试验电源5、试验电压控制板、信号传输阵列控制板以及监测仪表6均连接一控制器。

进一步，所述的测试板2通过对接组件8与所述的控制板3连接。

试验时，通过操作控制器，控制产生控制信号，将工作电压通过控制板而成恒压后通过对接组件送至高温试验箱内试验板上的被试晶体振荡器，每个被试晶体振荡器带高频吸收回路，被试晶体振荡器的输出信号通过对接组件将信号传输到控制板上，通过控制板高频切换阵列将信号传输给监测仪表，控制器从监测仪表上取回监测到的信号频率，由控制器来判断被试晶体振荡器的工作状态。被试晶体振荡器通过调节高温试验箱温度进行控制。

本说明书实施例所述的内容仅仅是对方面构思的实现形式的列举，本实用新型的保护范围不应当被视为仅限于实施例所陈述的具体形式，本实用新型的保护范围也及于本领域技术人员根据本实用新型构思所能够想到的等同技术手段。