[实用新型]一种电连接器密封结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及电连接器密封结构的结构设计和应用技术领域，特别提供了一种用于失水事故环境下的电连接器密封结构。 

背景技术

目前，常规的密封结构在电连接器产品中已得到广泛应用。但在既有高剂量的强辐照射线，又有高温高压腐蚀性的气体介质环境中。常规的密封结构在耐辐照及耐高温高压腐蚀两方面均无法满足使用的需求。 

人们迫切希望获得一种技术效果优良的电连接器密封结构。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够抵御高剂量的强辐照射线和高温高压腐蚀性气体介质并保证密封的电连接器密封结构。 

所述电连接器密封结构构成如下：插头壳体1、连接螺帽2、金属密封圈3、苯醚撑密封圈4及插座壳体5；所述插座壳体5套在插头壳体1外侧一端，插座壳体5和插头壳体1之间设置有苯醚撑密封圈4，连接螺帽2套在插头壳体1和插座壳体5外侧，所述连接螺帽2、插头壳体1和插座壳体5连接处设置有金属密封圈3。 

所述金属密封圈3为外壁开设有通气孔31的空腔结构。所述通气孔31可将外部高温高压气体导入中空腔内，随着气体压力逐渐增大，中空腔内 表面承压随之增加，与金属密封圈3外表面所受气压相互抵消，保持压力稳定。金属密封圈的材料选用不锈钢，有较高的耐辐照和耐受高温腐蚀性气体介质的能力。 

所述苯醚撑密封圈4为非金属密封圈，苯醚撑密封圈4与一般的橡胶相比性能优越，在满足橡胶材料基本性能的同时，可耐受高剂量的γ、β等射线的照射而不发生材料性质变化。 

所述插座壳体5构成如下：螺纹Ⅱ51、引导槽52、端面Ⅱ53及内环54；所述螺纹Ⅱ51位于插座壳体5外侧一端，引导槽52位于插座壳体5内侧，端面Ⅱ53位于插座壳体5的一端，内环54位于插座壳体5内侧一端。其中，螺纹Ⅱ51与连接螺帽2的螺纹配合，实现旋合功能；引导槽52与插头壳体1的引导键配合，实现插头座对接引导及插头壳体1防转功能；端面Ⅱ53挤压金属密封圈3，实现高压环境下的密封；内环54挤压苯醚撑密封圈4，防止湿气渗入连接器内部，实现常规密封功能。 

所述插头壳体1构成如下：引导键11、外环槽12及端面Ⅰ13；所述引导键11位于插头壳体1外侧，外环槽12为位于插头壳体1外侧周向的凹槽结构，端面Ⅰ13位于插头壳体1的外侧。其中，引导键11与插座壳体5的引导槽配合，实现插头座对接引导及插头壳体1防转功能；端面Ⅰ13挤压金属密封圈3，实现高压环境下的密封；外环槽12挤压苯醚撑密封圈4，防止湿气渗入连接器内部，实现常规密封功能。 

所述连接螺帽2为环状结构，构成如下：螺纹Ⅰ21、六方22及保险丝孔23；所述螺纹Ⅰ21位于连接螺帽一端内侧，用于与插座壳体的螺纹实现螺纹连接，实现旋合功能；六方22位于连接螺帽2的外侧，用以实现 连接螺帽2使用扭矩扳手旋合时的定位功能；保险丝孔23位于连接螺帽2远离螺纹Ⅰ21的另一端。在打保险丝后实现防松功能，使连接螺帽2在旋紧后轴向定位。 

所述插头壳体1和插座壳体5对接时，使用扭矩扳手旋合连接螺帽，进而压缩金属密封圈3，直至插头壳体1和插座壳体5的端面与插头壳体1的端面紧密贴合，实现插头壳体1和插座壳体5的对接；之后使用保险丝实现连接螺帽放松。 

当在高剂量的强辐照射线和高温高压腐蚀性气体环境中。一方面，高温高压腐蚀性气体通过金属密封圈3四周的通气孔进入其内部中空腔，对中空腔内壁施压，压力通过金属密封圈3传递给插座壳体端面与插头壳体端面，使金属密封圈与两端面贴合的更加紧密。外部压力越大，贴合的越紧密，形成优越的自密封性。另一方面，密封结构中各金属，非金属零件材料均具有耐高剂量辐照性，完全能够满足在高剂量辐照下零件材料状态安全稳定。 

所述电连接器密封结构克服了电连接器产品常规密封结构的不足，使电连接器产品能够在高剂量的强辐照射线和高温高压腐蚀性气体环境中保证密封。使电连接器产品具备了在失水事故的强辐照射线和高温高压腐蚀性气体环境中安全工作的能力，大大提高了产品的应用市场。具有较为巨大的经济价值和社会价值。 

附图说明

图1为电连接器密封结构组成示意图； 

图2为连接螺帽结构示意图； 

图3为金属密封圈结构示意图； 

图4为苯醚撑密封圈示意图； 

图5为插座壳体结构示意图； 

图6为插头壳体结构示意图。 

具体实施方式

实施例1