[实用新型]分光光度计

说明书

技术领域

本实用新型涉及光谱学设备技术领域，具体涉及一种分光光度计。 

背景技术

分光光度计，又称光谱仪，是利用光源发出被测的特征光谱辐射，被经过原子化器后的样品蒸气中的待测元素基态原子所吸收，通过测定特征辐射被吸收的大小，来求出被测元素的含量。原子吸收分光光度计主要由光源、原子化系统、光学系统、电学系统等四个基本部分组成，根据朗伯-比尔定律，吸光度与样品浓度成正比，因此参照标准，根据吸光度可得出样品的含量及浓度。 

原子吸收分光光度计的一体化是在二十世纪九十年代的重要成就之一。它把几十年来一直分立作微量分析火焰原子吸收和作痕量分析石墨炉原子吸收两台独立仪器结合在一台仪器中，十多年来在市场需求的推动下，世界各著名光谱仪器生产厂商纷纷推出其商品化仪器。但火焰原子化器中助燃气体和待测样品蒸气燃烧时会散发大量热量，而且不易排出壳外，时间长了会对仪器和电路产生影响，降低测量精度并缩短其使用寿命，另外目前火焰原子化器采用的脉冲点火器可靠性普遍偏低。 

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种分光光度计。该装置制冷速度快，散热效率高，火焰原子化器点火可靠性高。 

为解决上述技术问题，本实用新型提供了以下技术方案： 

   一种分光光度计，包括箱体（1）、原子化系统室（6）、火焰原子化器（3）、石墨炉原子化器（4）、制冷装置（5）、导热板(9)、散热板(16)，其特征在于：所述箱体（1）内部设置有原子化系统室（6），原子化系统室（6）内部设置有火焰原子化器（3）和石墨炉原子化器（4），所述火焰原子化器（3）和石墨炉原子化器（4）上方设置有导热板(9)，导热板(9)上方设置制冷装置（5），在箱体（1）顶部与制冷装置（5）相对应的位置设置有散热板(16)，散热板(16)上设置有若干散热孔（2）。

所述制冷装置（5）包括半导体制冷片（8），散热鳍片（7），散热风扇（10），多个半导体制冷片（8）的制冷面贴附在导热板（9）上，散热鳍片（7）贴附在半导体制冷片（8）的制热面，散热风扇（10）固定在散热鳍片（7）上。 

所述火焰原子化器包括雾化器（11）、燃烧头（12）和点火装置（13），所述点火装置（13）包括支架（14）和镍铬丝（15），支架（14）固定在雾化器（11）上部，镍铬丝（15）固定在支架（14）上且垂直于燃烧头（12）。   

    与现有技术相比，本发明的有益效果是：半导体制冷片制冷速度快，易于控制，且散热效率大幅提高，保证了仪器和电路的正常工作，延长了其使用寿命；镍铬丝使用寿命长，点火可靠性高。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。 

图2是本实用新型制冷装置结构示意图。 

图3是本实用新型火焰原子化器结构示意图。 

图中标记：箱体1，散热孔2，火焰原子化器3，石墨炉原子化器4，制冷装置5，原子化系统室6，散热鳍片7，半导体制冷片8，导热板9，散热风扇10，雾化器11，燃烧头12，点火装置13，支架14，镍铬丝15，散热板16。 

以下结合附图所示的具体实施方式，对本实用新型的上述内容再作进一步的详细说明。 

具体实施方式

一种分光光度计，包括箱体（1）、原子化系统室（6）、火焰原子化器（3）、石墨炉原子化器（4）、制冷装置（5）、导热板(9)、散热板(16)，所述箱体（1）内部设置有原子化系统室（6），原子化系统室（6）内部设置有火焰原子化器（3）和石墨炉原子化器（4），所述火焰原子化器（3）和石墨炉原子化器（4）上方设置有导热板(9)，导热板(9)上方设置制冷装置（5），在箱体（1）顶部与制冷装置（5）相对应的位置设置有散热板(16)，散热板(16)上设置有若干散热孔（2）。 

所述制冷装置（5）包括半导体制冷片（8），散热鳍片（7），散热风扇（10），多个半导体制冷片（8）的制冷面贴附在导热板（9）上，散热鳍片（7）贴附在半导体制冷片（8）的制热面，散热风扇（10）固定在散热鳍片（7）上。 

所述火焰原子化器包括雾化器（11）、燃烧头（12）和点火装置（13），所述点火装置（13）包括支架（14）和镍铬丝（15），支架（14）固定在雾化器（11）上部，镍铬丝（15）固定在支架（14）上且垂直于燃烧头（12）。