[实用新型]元件检测装置有效
| 申请号: | 201420292269.7 | 申请日: | 2014-06-03 |
| 公开(公告)号: | CN203949626U | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
| 发明(设计)人: | 黄向荣;杨峻铭;张勋章;任文益 | 申请(专利权)人: | 精湛光学科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02;G01B11/14;G01N21/88 |
| 代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 元件 检测 装置 | ||
1.一种元件检测装置,其特征在于,包括:一元件载台,该元件载台设有数个定位槽,该定位槽支撑一待测元件;
一元件驱动装置,包含一基座、一驱动装置及一磁性件,该驱动装置结合于该基座,且该驱动装置连接该磁性件,用以驱动该磁性件相对一轴向方向枢转,该磁性件沿该轴向方向与其中一定位槽形成同轴;
一光源模块,包含一光源,该光源具有一发光端,该发光端朝向与该磁性件形成同轴的定位槽投射光线;
及一摄影模块,包含一摄影装置,该摄影装置连接一镜头,用以拍摄与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件影像。
2.根据权利要求1所述的元件检测装置,其特征是:该定位槽活动地连接该待测元件,使该待测元件能够沿着该轴向方向在该定位槽中滑动。
3.根据权利要求1所述的元件检测装置,其特征是:该光源为线性光源,用以产生与该轴向方向平行的一线性光,并且将该线性光经由该发光端投射在与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件。
4.根据权利要求1所述的元件检测装置,其特征是:该摄影装置为线扫描摄影机,经由该镜头对与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件拍摄,以取得与该轴向方向平行的一线性影像。
5.根据权利要求1所述的元件检测装置,其特征是:该元件载台包含相互结合的一转轴及一承载盘,该转轴能够受一动力元件而相对该轴向方向枢转,所述数个定位槽环绕设置于该承载盘的外周缘。
6.根据权利要求1所述的元件检测装置,其特征是:所述元件检测装置另设有一支撑模块,该支撑模块包含一支架、二支撑杆及一驱动部,该二支撑杆连接该支架,并且朝向与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件设置,各该支撑杆均设有一导轮,该导轮枢接结合于该支撑杆,该驱动部连接该支架,以供驱动该二支撑杆朝该待测元件接近,使该待测元件分别抵接该二导轮,或者供驱动该二支撑杆远离该待测元件,使该待测元件与该二导轮相远离。
7.根据权利要求6所述的元件检测装置,其特征是:各该支撑杆均另设有一永久磁铁,该永久磁铁与该导轮沿该轴向方向排列设置。
8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置,其特征是:该元件驱动装置另包含一第一调整部,该第一调整部连接该基座,且该第一调整部包含一第一水平调整部及一第一垂直调整部,该第一水平调整部用于调整该基座于垂直该轴向方向之平面上的位置,该第一垂直调整部用于调整该基座于该轴向方向上的位置。
9.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置,其特征是:该光源模块另包含一第二调整部,该第二调整部连接该光源,且该第二调整部包含一第二水平调整部及一第二垂直调整部,该第二水平调整部用于调整该光源于垂直该轴向方向之平面上的位置,该第二垂直调整部用于调整该光源于该轴向方向上的位置。
10.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置,其特征是:该摄影模块另包含一第三调整部,该第三调整部连接该摄影装置,且该第三调整部包含一第三水平调整部及一第三垂直调整部,该第三水平调整部用于调整该摄影装置于垂直该轴向方向之平面上的位置,该第三垂直调整部用于调整该摄影装置于该轴向方向上的位置。
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