[实用新型]一种光学错误注入系统及其平台

说明书

技术领域

本实用新型涉及信息安全领域，特别涉及一种光学错误注入系统及其平台。

背景技术

随着信息安全技术的发展，各种安全产品越来越普及，其包括金融IC卡、社保卡、用于网上银行的USBKey、加密U盘等，这些安全产品都是利用安全芯片来实现其安全功能。随着安全芯片在金融等领域应用的推广，安全芯片的安全性变得越来越重要，需要通过安全特性分析设备对安全芯片的安全特性进行测评。

现有技术通过非侵入式攻击、半侵入式攻击或侵入式攻击对安全芯片进行攻击，其中半侵入式攻击处于非侵入式攻击和侵入式攻击之间，目前半侵入式攻击中最为有效的攻击手段是光学错误注入。现有的光学错误注入平台的包括：激光注入设备和工作站，激光注入设备包括激光光头和载物平台。其中，安全芯片固定在载物平台上，工作台控制载物平台步进移动来实现激光注入。由于只有载物平台运动，且载物平台的运动轨迹为直线，因此存在物理位置盲区较大的问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种光学错误注入系统及其平台，以解决物理位置盲区较大的问题。

本实用新型提供的一种光学错误注入平台，其包括：载物平台，用于承载待测芯片；光学头，用于对待测芯片进行光学错误注入；第一传动机构，用于与载物平台连接且沿直线轨迹传动载物平台；第二传动机构，用于与光学头连接且沿曲线轨迹传动光学头。

其中，曲线轨迹包括圆形轨迹。

本实用新型还提供一种光学错误注入系统，其包括以上所述的光学错误注入平台。

其中，光学错误注入系统进一步包括工作站和运动轨迹控制器，工作站与动轨迹控制器连接，运动轨迹控制器与第一传动机构和第二传动机构连接，运动轨迹控制器根据工作站输出的轨迹数据控制第一传动机构和第二传动机构中的一者或二者进行运动。

其中，光学错误注入系统进一步包括信息采集器，信息采集器在光学头对待测芯片进行光学错误注入时对待测芯片进行信息采集，并将采集到的信息传输至工作站。

其中，工作站通过USB或串口通信分别与运动轨迹控制器和信息采集器连接。

通过上述方案，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过第一传动机构用于与载物平台连接且沿直线轨迹传动载物平台，第二传动机构用于与光学头连接且沿曲线轨迹传动光学头，以实现了光学头和载物平台两者协调配合移动，减少物理位置盲区，并且提高了光学错误注入的效率。

附图说明

图1是本实用新型第一实施例的光学错误注入平台的结构示意图；

图2是本实用新型第二实施例的光学错误注入系统的结构示意图。

具体实施方式

请参见图1所示，图1是本实用新型第一实施例的光学错误注入平台的结构示意图。本实施例所揭示的光学错误注入平台1包括载物平台11、光学头12、第一传动机构13、第二传动机构14及底座支架15，底座支架15上用于承载载物平台11、光学头12、第一传动机构13以及第二传动机构14。

在本实施例中，载物平台11用于承载待测芯片16，其中待测芯片16嵌套放置于载物平台11上。在其他实施例中，载物平台11也可采用夹子固定等方式来固定待测芯片16。载物平台11与第一传动机构13连接，第一传动机构13用于沿直线轨迹传动载物平台11，即第一传动机构13控制载物平台11沿直线轨迹传动。

其中，光学头12用于对待测芯片16进行光学错误注入，光学头12优选为激光光头。光学头12设置在载物平台11的上方，并且光学头12与第二传动机构14连接，第二传动机构14用于沿曲线轨迹传动光学头12，即第二传动机构14控制光学头12沿曲线轨迹传动。其中，曲线轨迹包括直线轨迹、圆形轨迹或不规则曲线轨迹。

在第二传动机构14获取光学头12对待测芯片16进行光学错误注入的第一位置坐标时，第二传动机构14根据第一位置坐标沿曲线轨迹传动光学头12，以对待测芯片16进行精确的光学错误注入。相对于现有的光学错误注入平台，本实施例的光学错误注入平台1能够避免在直线运行时多余的附加位置扫描。

进一步，第一传动机构13获取载物平台11在光学头12对待测芯片16进行光学错误注入时的第二位置坐标，第一传动机构13根据第二位置坐标沿直线轨迹传动载物平台11，以使光学头12与载物平台11相对运动。相对于现有的光学错误注入平台，本实施例的光学错误注入平台1能够提高光学错误注入的效率，且实现光学头12与载物平台11配合移动，减少物理位置盲区。