[实用新型]一种老化测试通用治具

说明书

技术领域

本实用新型设计老化测试设备技术领域，具体的设计一种老化测试通用治具。 

背景技术

为了提高电子产品的出厂质量，电子产品在出厂前需要进行老化测试，早期老化测试工序是将电子产品进行单个电连接测试，这种方式效率低，特别是当电子产品需要进行多个项目的老化测试时，电子产品的接口需要多次与不同的测试设备电连接，因而在测试项目装换时，电子产品的接口需要多次插拔，从而导致接口磨损较大，影响电子产品的使用寿命。 

为了解决上述问题，人们采用了老化测试治具，将多个电子产品放入老化测试治具，然后将老化测试治具与测试设备电连接，以提供测试效率，同时避免了直接与电子产品电连接所造成的损害，然而，目前我国电子产品所使用的老化测试治具，大多只能对应一种电子产品的使用，当电子厂家每次更换不同类型的电源适配器时，不得不再重新设计所配套的老化测试治具，这不仅耗费大量的成本，而且需要电子厂家腾出大量的空间厂区来放置闲置的老化测试治具，同时，老化测试治具的重新设计也延迟了相应的生产时间，降低了生产效率。 

发明内容

本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种操作简单、老化测试效率高、产能高、能够实现多种电子产品共用的老化测试通用治具。 

本实用新型的目的通过以下技术方案实现。 

提供一种老化测试通用治具，包括基座，基座包括基座上盖和基座下盖、所述基座内设置有PCB板，所述PCB板设置有DC信号连接装置，所述基座上盖设置有桌面式AC信号接口和DC信号接口，所述桌面式AC信号接口以及所 述DC信号接口均通过所述PCB板与所述DC信号连接装置电连接，所述基座上盖设置有AC盖、DC盖和高度挡板，所述高度挡板设置于所述基座上盖的四周，所述基座下盖底部设置有ID卡。 

所述基座下盖装设有AC盖板，所述基座上盖的表面两侧设置有AC接口固定座，所述桌面式AC信号接口固定于所述AC接口固定座。 

所述AC插座固定盖为防呆型。 

所述DC信号接口的一侧固定于PCB板，所述DC接口固定PCB板开设有多个与所述DC信号接口相配合的插孔，所述DC接口固定PCB板通过直插针连接器与所述PCB板孔座配合接触，并设有DC盖与基座上盖锁附固定，所述DC接口固定板与两侧AC插座处于一一对应关系。 

所述上盖中间靠两侧边分开设有DC安装槽，DC信号接口装置安装于DC安装槽内。 

所述上盖两侧AC信号接口与DC信号接口之间的位置处设置有放线槽，老化测试通用治具四周外围设置档线槽。 

所述基座下盖两侧各设置两处阻挡槽。 

所述基座一侧设置有定位柱及通用治具转接连接装置。 

所述基座上盖两侧AC信号接口与放线槽之间分别设置有支撑产品托条。 

本实用新型的有益效果： 

本实用新型的一种老化测试通用治具，在基座上盖设置有防呆型AC盖和高度挡板，在基座下盖上设置ID卡，可以解决因人为的差错接头而造成的产品损坏，ID卡跟踪治具的位置信息和测试结果反馈，方便后期对产品的质量跟踪和等级分次，并且盖上设置有多种型号的插槽，可以同时对多种产品进行测试，从而大大提供生产效率，节约了更换治具的制作成本，有效降低了企业的生产成本。 

附图说明

图1为本实用新型的一种老化测试通用治具的结构示意图。 

图2为本实用新型的一种老化测试通用治具的另一角度的结构示意图。 

图3为本实用新型的一种老化测试通用治具的剖面图。 

图4为本实用新型的一种老化测试通用治具的可更换防呆型AC盖1示意图。 

图5为本实用新型的一种老化测试通用治具的可更换不防呆型AC盖2示意图。 

图1和图2中包括有：基座0、基座上盖1、基座下盖2、AC插座固定盖3、DC盖4、桌面式AC信号接口5、DC信号连接装置6，15、转接连接装置固定板7、转接导向柱8、到位感应铜片9、转接连接装置10、支撑产品托条11、信号铜柱测试点12、ID卡13、PCB板14、高度挡板18。 

具体实施方式

下面结合实例及附图对本实用新型作进一步详细的描述，但本实用新型的实施按时不限于此。