[实用新型]一种主板键盘接口的测试电路及系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及计算机测试领域，更具体地说，涉及一种对电脑主板键盘的接口进行自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路及系统。

背景技术

电脑生产厂商主板的矩阵键盘(KBMX)接口在出厂前必须对其进行全键盘的测试，测试方法为：人工逐个敲击键盘，在测试软件界面观察模拟键盘的各个按键是否全部有效（例如按键颜色由灰色变为绿色）进而判断接口是否合格。

这种人工全键盘敲击的方式，需要耗费大量人力资源且效率低下，有些厂商为减少工时，甚至采用人工敲击部分键盘按键测试，但如果有没测的按键接口或EC引脚有空焊或连锡，则会有漏测的风险而导致不良产品流出。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述主板键盘接口测试时的测试效率低、可靠性差、耗时耗力的缺陷，提供一种可以实现自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路及系统。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，包括依次连接的启动电路、控制电路、开关电路和键盘排线接口；

所述键盘排线接口用于连接待测试主板键盘接口；

所述启动电路用于发送启动测试信号；

所述控制电路用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；

所述开关电路用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。

本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述控制电路包括型号为STC11F04E的单片机，所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；

所述单片机的P37引脚连接至所述启动电路；

所述模拟开关阵列芯片的AX0引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P10引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片的AY0引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P14引脚至P16引脚；

所述模拟开关阵列芯片的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P35引脚、P33引脚、P32引脚。

本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述键盘排线接口包括第一键盘排线接口和第二键盘排线接口，所述启动电路还连接至所述第一键盘排线接口；所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；

所述模拟开关阵列芯片的X0引脚至X15引脚以及Y0引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片的X0引脚至X15引脚以及Y0引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口中的24个对应的引脚。

本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路包括：一个3脚的排针、连接在所述排针上的短路帽、MOS管、按键开关；

所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述MOS管的漏极；所述MOS管的漏极连接至所述控制电路，所述MOS管的源极连接至所述排针的2号引脚，所述MOS管的栅极和所述排针的1号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的2个对应的引脚；

测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口或第二键盘排线接口：当选择第一键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽插接在所述排针的1号引脚和2号引脚上；当选择第二键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。

本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管；

所述发光二极管的负极连接至所述排针的1号引脚，所述发光二极管的正极连接至所述MOS管的栅极。

本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发；

所述启动电路包括按键开关；所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述控制电路。

本实用新型还公开了一种主板键盘接口的测试系统，包括具有测试模块的测试台，还包括与所述测试台连接的所述的主板键盘接口的测试电路。