[实用新型]一种边界扫描测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种边界扫描测试装置。

背景技术

边界扫描测试发展于上世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小、微、薄发展，传统的测试治具（In Circuit Test，ICT）已经无法满足目前电路板产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，电路板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。在这种情况下，一种新的测试技术产生了，联合测试行为小组（Joint Test Action Group，JTAG）定义这种新的测试方法即边界扫描测试。

目前国内进行边界扫描测试的电路大多采用RS232接口与上位机进行通信，其通信的速率较慢，电路的兼容性较差，但是成本却很高，功能升级又极不方便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种边界扫描测试装置，以提高边界扫描测试的效率。

本实用新型提供了一种边界扫描测试的装置，所述装置包括：

USB模块，用于与外部控制计算机进行数据通信；

与所述USB模块相连接的电路粘连模块，用于对所述边界扫描测试装置各模块中的器件进行片选控制以及对芯片间的信号进行时序匹配；

与所述电路粘连模块相连接的单片机模块，用于控制所述边界扫描测试装置中各模块的工作状态；

与所述电路粘连模块相连接的控制模块，用于产生边界扫描测试的信号。

可选的，所述USB模块包括USB芯片。

可选的，所述USB模块与外部的控制计算机相连接。

可选的，所述电路粘连模块包括复杂可编程逻辑器芯片。

可选的，所述单片机模块包括单片机芯片。

可选的，所述控制模块包括JTAG芯片、接口隔离芯片和电平转换芯片。

可选的，所述控制模块的输出端与外部的被测边界扫描测试电路相连接。

可选的，所述边界扫描测试装置，还包括与所述电路粘连模块和所述单片机模块分别相连接的40M晶振，用于为所述电路粘连模块和所述单片机模块提供时钟信号。

本实用新型提供的一种边界扫描测试的装置，采用USB模块与外部计算机进行数据通信，相较于采用RS232接口的通信相比，数据通信的速率更高，采用CPLD芯片为核心器件，使得边界扫描测试装置设计更为灵活，升级方便，控制模块中添加接口隔离芯片，电平兼容性更好，使边界扫描测试的效率更高，边界扫描测试装置的成本降低，且体积更加小巧，应用更为广泛。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的边界扫描测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部内容。

图1是本实用新型实施例提供的边界扫描测试装置的结构示意图。如图1所示，本实用新型实施例提供的装置包括：USB模块101、与所述USB模块相连接的电路粘连模块102、与所述电路粘连模块相连接的单片机模块103和与所述电路粘连模块相连接的控制模块104。

其中，所述USB模块101，用于与外部控制计算机进行数据通信；所述电路粘连模块102，用于对所述边界扫描测试装置各模块中的器件进行片选控制以及对芯片间的信号进行时序匹配；所述单片机模块103，用于控制所述边界扫描测试装置中各模块的工作状态；所述控制模块104，用于产生边界扫描测试的信号。

在上述方案中，可选的，所述USB模块101包括USB芯片。所述USB模块101与外部的控制计算机相连接。所述USB模块101可以通过USB芯片实现外部的控制计算机与所述边界扫描测试装置的数据转换。例如，通过芯片CH372将外部控制计算机传递来的数据解析成8位的数据并传递给电路粘连模块102，其中，芯片CH372可以由12M无源晶振来提供时钟信号。所述USB模块101还可以为本实用新型实施例提供的边界扫描测试装置进行供电，通过所述USB模块中USB口向所述边界扫描测试装置提供5V电压，经稳压电源芯片ADP3339-3.3输出3.3V电压给所述电路粘连模块102、所述单片机模块103和所述控制模块104进行供电。