[实用新型]开关键安装不良检测治具有效

专利信息
申请号: 201420097252.6 申请日: 2014-03-05
公开(公告)号: CN203824484U 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 许择方 申请(专利权)人: 大碇电脑配件(上海)有限公司
主分类号: G01B5/12 分类号: G01B5/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201613 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 开关 安装 不良 检测
【说明书】:

技术领域

 本实用新型属于内孔孔径检测治具技术领域,具体的说是涉及一种开关键安装不良检测治具。

背景技术

通常现有技术中各种电子产品的开关键都是采用圆形开关键,所以用于放置开关键的孔位也是圆形。现有技术中用于安装开关键的工件通常都是成批热压或注塑成型,这些工件通常孔位偏小,不良率较高,操作工人通常都是通过目视或卡尺等量测工具来对工件进行检测,这些方法的检测标准不明确,通常都是靠工人的经验进行检测,人工操作不方便,作业强度较大,容易漏检而出现不良品,热熔电源开灯使产品热熔后无法修复造成卡键报废。

在实际操作中工人组装开关键时经常因孔位尺寸偏小而造成产品组装后卡键等现象,从而造成整个工件报废,而且圆形孔位的内径人员不易检验,使得在以往作业中的每日不良品甚多。因为组装开关键通常都是在生产线流程的后半段,产品的拆卸维修使得前段生产的工件报废,所以会造成大量人力物力的浪费。现在亟需制作一种辅助治具,用后将不良控制在第一站,这样既方便作业又使不良报废降至零报废,从而节约人力物力成本。

发明内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术存在的不足,提供一种利用产品孔位内框尺寸而制造的仿型孔位检测治具,其是一种结构简单、拦截不良、保证品质的开关键安装不良检测治具。

本实用新型是通过以下技术方案实现的:一种开关键安装不良检测治具,其是由三段内直径依次减小的圆形台阶构成的钢柱,三段圆形台阶的圆心在同一条直线上,三段圆形台阶由上至下依次为内直径最大的治具本体、内直径居中的止规和内直径最小的通规。 

所述钢柱为一体成型钢柱。治具本体的内直径为15mm,止规的内直径为10.16mm,通规的内直径为10.13mm。三段圆形台阶的高度均为10mm。

本实用新型是一种用于检测内孔孔径不良率的检测治具,使用时,通过内直径尺寸不同的通规和止规对现有产品的孔径大小进行检测,以确定尺寸是否在公差范围之内:

a、如果通规通过,止规未通过,则判定该孔径合格;

b、如果通规通过,止规也通过,则判定该孔径偏大;

c、如果通规未通过,则判定该孔径偏小。

本实用新型的有益效果是:本实用新型使用钢制圆柱材料制作符合空位直径的圆形,分为两段台阶,内直径止规台阶及外径通规台阶。通常产品在两次喷漆后的表面膜厚造成孔径尺寸偏小或注塑缩水导致孔径尺寸不良等,作业人员目视不易检查,导致产品装配后卡键等不良现象发生,需进行拆卸维修,容易造成不良报废。使用本实用新型使用治具防呆取代人员检验,以弥补人员目视的误差缺点。本实用新型改善了以往用目测或卡尺等量测工具的繁琐、减少了量测误差,节约了人力成本,起到事半功倍的作用。本实用新型制作简单,孔位仿型治具杜绝人员检验不良,方便作业,不良报废由每天约6PCS降低至0PCS,从而节省产品报废,用治具后每月可节约报废成本2315元。

本实用新型还具有如下优点:1、操作简单,良品与次品区分明显;2、标准明确,有效拦截不良后制得的产品无不良现象;3、治具便于员工操作,可大大的缓解员工作业强度;4、拦截不良,保证品质,提高生产良率。

附图说明

图1是本实用新型开关键安装不良检测治具的侧面结构示意图;

图2是本实用新型开关键安装不良检测治具的使用状态结构示意图:

图中:1-治具本体;2-止规;3-通规。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作详细描述。

如图1所示,一种开关键安装不良检测治具,其是由三段内直径依次减小的圆形台阶构成的钢柱,三段圆形台阶的圆心在同一条直线上,三段圆形台阶由上至下依次为内直径最大的治具本体1、内直径居中的止规2和内直径最小的通规3。钢柱为一体成型钢柱。治具本体1的内直径为15mm,止规2的内直径为10.16mm,通规3的内直径为10.13mm。三段圆形台阶的高度均为10mm。图2为本实用新型的检测治具应用在笔记本电脑的开关键孔径检测中,如图2所示为通规3未通过入开关键孔位,则该工件的检测结果为孔位小的不良品。

最后应当说明的是,以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换,均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

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