[实用新型]掺锡氧化铟的短路测试电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及ITO检测领域，尤其涉及一种掺锡氧化铟的短路测试电路。 

背景技术

现有的LCD厂测试ITO时，测试人员都是采用万用表，利用万用表测试短路的功能，将万用表的表笔放在需要测试的ITO上。ITO是掺锡氧化铟，英文全称是Indium Tin Oxide，是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。 

发明内容

现有的万用表测试存在着部分的缺陷，若LCD的 ITO电阻过大时，万用表的测试灵敏度将得不到保证，这就导致生产出来产品的良率也得不到保证，在ITO PITCH值较小时，即ITO走线细小时，万用表表笔过大，也不容易测试ITO短路现象。因此该万用表的使用范围具有一定的局限性。 

发明内容

针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供一种电路简单、使用方便、灵敏度高、精度准确、适用范围广及工作效果高的掺锡氧化铟的短路测试电路。 

为实现上述目的，本实用新型提供一种掺锡氧化铟的短路测试电路，包括放大电路、蜂鸣器、第一针灸银针和第二针灸银针；所述放大电路包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管和第二三极管的集电极均与第一针灸银针电连接，所述第一三极管的基极与第二针灸银针电连接，所述第一三极管的发射极与第二三极管的基极电连接，所述第二三极管的发射极与蜂鸣器的另一端电连接，所述蜂鸣器的另一端接地。 

其中，所述放大电路还包括第一电阻，所述第一三极管的发射极通过第一电阻与第二三极管的基极电连接。 

其中，所述第一三极管的基极通过第二电阻与第二针灸银针电连接。 

其中，所述第一三极管的集电极通过第三电阻与第一针灸银针电连接。 

其中，所述第二三极管的集电极通过第四电阻与第一针灸银针电连接。 

本实用新型的有益效果是：与现有技术相比，本实用新型提供的掺锡氧化铟的短路测试电路，主要利用两个三极管组成驱动蜂鸣器的放大电路，且增设两根针灸银针，第二针灸银针外接第一三极管的基极即放大电路的输入端，两个三极管的集电极即放大电路的电源端均与第一针灸银针连接，测试时，将两根针灸银针分别放在需要测试的ITO上，如果两根ITO短路了，那么放大电路的输入端就与电源端连接，放大电路导通，输出电流驱动蜂鸣器报警，测试人员就可以判断该ITO短路。通过该电路结构的改进，可根据蜂鸣器的工作状态来判断ITO的异常与否，提高了测试的灵敏度及精确度，提高了产品检测的合格率，且测试不受ITO走线粗细的影响，扩大了适用范围。本实用新型具有电路简单、使用方便、灵敏度高、精度准确、适用范围广及工作效果高及减少产品报废等特点。 

附图说明

图1为本实用新型的掺锡氧化铟的短路测试电路的电路图。 

主要元件符号说明如下： 

10、放大电路              11、第一针灸银针       

12、第二针灸银针          LS、蜂鸣器

Q1、第一三极管           Q2、第二三极管

R1、第一电阻              R2、第二电阻

R3、第三电阻              R4、第四电阻

具体实施方式

为了更清楚地表述本实用新型，下面结合附图对本实用新型作进一步地描述。 

请参阅图1，本实用新型的掺锡氧化铟的短路测试电路，包括放大电路10、蜂鸣器LS、第一针灸银针11和第二针灸银针12；放大电路10包括第一三极管Q1和第二三极管Q2，第一三极管Q1和第二三极管Q2的集电极均与第一针灸银针11电连接，第一三极管Q1的基极与第二针灸银针12电连接，第一三极管Q1的发射极与第二三极管Q2的基极电连接，第二三极管Q2的发射极与蜂鸣器LS的一端电连接，蜂鸣器LS的另一端接地。