[实用新型]一种待测样本分析系统有效

专利信息
申请号: 201420040103.6 申请日: 2014-01-22
公开(公告)号: CN203720191U 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 丁建文;全学平 申请(专利权)人: 爱威科技股份有限公司
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N35/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 410013 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 样本 分析 系统
【权利要求书】:

1.一种待测样本分析系统,设置在一个平台上,其特征在于,包括:

输送装置,设置在所述平台上,用于存储和输送不同种类的检测板;

自动加样装置,用于将稀释后的待测样本加入到所述检测板中;

所述自动加样装置包括:导轨;设置在所述导轨上的取样头,能够沿所述导轨横向滑动;设置在所述取样头上的取样针,用于将所述待测样本从样品杯中取出并放置到所述检测板中;

检测装置,用于对所述检测板中的所述待测样本进行检测和识别并生成报告。

2.如权利要求1所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述输送装置为两个,分别用于存储输送不同种类的检测板。

3.如权利要求2所述的待测样本分析系统,其特征在于,还包括:

清洗杯,设置在所述平台上,用于对所述取样针进行清洗。

4.如权利要求1所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述检测装置包括显微镜检测单元和/或化学成分检测单元。

5.如权利要求4所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述检测板为计数板。

6.如权利要求5所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述显微镜检测单元包括:

显微镜,所述显微镜的物镜正对所述计数板;

成像模块,用于采集所述显微镜输出的图像。

7.如权利要求6所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述成像模块包括COMS器件或CCD器件。

8.如权利要求4所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述检测板为反应板。

9.如权利要求8所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述化学成分检测单元包括:

加试剂模块,用于向所述反应板中加入化学试剂;

识别模块,用于对加入所述化学试剂后的反应板中所述待测样本的外观进行识别。

10.如权利要求9所述的待测样本分析系统,其特征在于,所述识别模块包括COMS器件或CCD器件。

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