[发明专利]一种光模块测试系统及方法在审
| 申请号: | 201410850335.2 | 申请日: | 2014-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN104410447A | 公开(公告)日: | 2015-03-11 |
| 发明(设计)人: | 代辉;陈晓鹏;曾海峰 | 申请(专利权)人: | 索尔思光电(成都)有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 林辉轮;王芸 |
| 地址: | 611731 四川省成都市高新区西*** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 模块 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光模块测试领域,特别涉及一种光模块测试系统及方法。
背景技术
现有的光模块测试时,通常在一个测试平台上设置多个测试仪器,在进行多个光模块测试时,测试平台上的多个测试仪器无法合理分配,测试仪器整体的利用率非常低,浪费测试仪器资源,影响光模块生产效率。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足,提供一种光模块测试系统及方法,以提高测试仪器使用率,减少测试资源浪费,提高光模块测试效率从而提高生产效率。
为了实现上述发明目的,本发明采用的技术方案是:一种光模块测试系统,包括至少两个测试板,所述至少两个测试板各自均连接至服务器,所述服务器连接有测试仪器、光开光和/或电开关,所述光开光和/或电开关分别与所述测试仪器连接,所述至少两个测试板各自均连接到所述光开光和/或电开关;
所述至少两个测试板,用于安装待测光模块,在进行测试时任意一个测试板向所述服务器发送访问所述测试仪器的访问请求;
所述服务器,用于当接收到所述访问请求时,检查所请求的所述测试仪器是否已经被其他测试板占用,如果没有被占用则根据所述访问请求操作相应的所述光开关和/或电开关打开相应通道 ,并将所述测试仪器的使用权交给发送访问请求的测试板,如果已经被占用,则发送拒绝消息给发送访问请求的测试板。
优选的,所述至少两个测试板还用于在测试前分别向所述服务器发送注册请求,所述服务器根据所述注册请求为每个所述测试板分配所述光开关和/或电开关的不同通道,并存储每个测试板与所述光开关和/或电开关的不同通道之间的对应关系。
优选的,所述服务器还用于当接收到所述访问请求后,判断发送所述访问请求的测试板是否已经分配了所述光开关和/或电开关的相应通道,若否,则为其分配所述光开关和/或电开关的对应通道并关联存储。
优选的,所述光开光和/或电开关上的每个通道具有唯一识别信息,所述至少两个测试板分别连接到所述光开光和/或电开关上的一个通道。
优选的,所述光开关和/或电开关为程控的光开光和/或电开关。
优选的,所述测试仪器为物理实体测试仪器或虚拟测试仪器。
优选的,每个所述测试板具有电接口和/或光接口,每个所述测试板通过所述电接口连接所述电开关,通过所述光接口连接所述光开关。
本发明还提供一种光模块测试方法,应用上所的光模块测试系统进行测试,包括如下步骤:所述至少两个测试板在进行测试时任意一个测试板向所述服务器发送访问所述测试仪器的访问请求;所述服务器当接收到所述访问请求时,检查所请求的所述测试仪器是否已经被其他测试板占用,如果没有被占用则根据所述访问请求操作相应的所述光开关和/或电开关打开相应通道 ,并将所述测试仪器的使用权交给发送访问请求的测试板,如果已经被占用,则发送拒绝消息给发送访问请求的测试板。
优选的,所述至少两个测试板在测试前分别向所述服务器发送注册请求,所述服务器根据所述注册请求为每个所述测试板分配所述光开关和/或电开关的不同通道,并存储每个测试板与所述光开关和/或电开关的不同通道之间的对应关系。
优选的,该方法还包括:当所述服务器接收到所述访问请求后,判断发送所述访问请求的测试板是否已经分配了所述光开关和/或电开关的相应通道,若否,则为其分配所述光开关和/或电开关的对应通道并关联存储。
与现有技术相比,本发明的有益效果:
本发明测试时,测试板向服务器发送访问测试仪器的访问请求,服务器接收到所述访问请求时,检查所请求的所述测试仪器是否已经被其他测试板占用,如果没有被占用则根据所述访问请求操作相应的所述光开关和/或电开关打开相应通道 ,并将所述测试仪器的使用权交给发送访问请求的测试板,之后就可对待测光模块进行相应测试。如果已经被占用,则发送拒绝消息给发送访问请求的测试板。由于测试仪器资源由服务器统一管理,整个过程采用竞争机制,就是当前共享的测试仪器如果空闲,测试板中谁先请求谁先获取,而非队列等待。测试板得到分配使用测试仪器后完成相应的测试,这样就提高了测试仪器的使用率,及时分配测试仪器资源,减少测试资源浪费,提高光模块测试效率从而提高生产效率。
附图说明:
图1是本发明实施例中的光模块测试系统示意图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尔思光电(成都)有限公司,未经索尔思光电(成都)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410850335.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于归一化滤波电路的光发射机
- 下一篇:一种块状物料抓取装置





