[发明专利]永磁材料磁通温度稳定性测量装置及方法

权利要求书

1.一种永磁材料磁通温度稳定性测量装置，包括：

加热箱体(1)，用于对测试样品(4)进行加热；

磁屏蔽(2)，位于所述加热箱体的内部，用于将所述磁屏蔽内部 的测试样品与所述磁屏蔽外部隔绝；以及

磁通测量线圈(3)，位于所述磁屏蔽的内部。

2.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，还包括气流循环部(12)，所述气流循环部位于所述加 热箱体的外部，与所述加热箱体的内部流体连通。

3.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，还包括温度传感器(5)，所述温度传感器位于所述磁通 测量线圈的内部。

4.根据权利要求3所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，还包括测温控温部(9)，所述测温控温部位于所述加热 箱体的外部，与所述温度传感器一起对所述加热箱体内部的温度进行 控制。

5.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，所述磁屏蔽呈相对于测试样品对称的形状，测试样品位 于所述磁屏蔽的中心位置。

6.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，所述磁屏蔽由隔热材料安装在所述加热箱体内。

7.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，所述磁屏蔽的周面上具有通风孔。

8.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，所述磁通测量线圈是亥姆赫兹线圈，测试样品位于所述 亥姆赫兹线圈的中心位置。

9.根据权利要求1所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，还包括磁通积分器(10)，位于所述加热箱体的外部， 用于测量测试样品的磁通或磁偶极矩。

10.根据权利要求9所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置， 其特征在于，测量所述磁通测量线圈在不同温度下的电阻值，并且根 据测量结果对不同温度下测量得到的磁通值进行修正。

11.一种永磁材料磁通温度稳定性测量方法，使用根据权利要求 1～10中任一项所述的永磁材料磁通温度稳定性测量装置进行测量， 包括：

步骤1：测量测试样品在第一温度(T1)时的磁通或磁偶极矩 j₁；

步骤2：使测试样品升温到第二温度(T2)，测量测试样品在第二 温度时的磁通或磁偶极矩j₂；

步骤3：使测试样品升温到第三温度(T3)，测量测试样品在第三 温度时的磁通或磁偶极矩j₃；

步骤4：使测试样品降温到第二温度，再次测量测试样品在第二 温度时的磁通或磁偶极矩j₂′；

步骤5：使测试样品降温到第一温度，再次测量测试样品在第一 温度时的磁通或磁偶极矩j₁′；

由所述步骤1～所述步骤5的测量结果，计算永磁材料的磁通温 度稳定性参数。

12.根据权利要求11所述的永磁材料磁通温度稳定性测量方法， 其特征在于，在所述步骤2和所述步骤3升温时，先快速升温，然后 慢速升温，从而避免温度过冲。

13.根据权利要求11所述的永磁材料温度磁通稳定性测量方法， 其特征在于，使用下式计算样品由第一温度(T1)升至第三温度(T3) 的磁通不可逆温度损失百分比δ₁：

δ₁＝[(j₁-j₁′)/j₁]×100％。